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4200-SCS半导体特性分析系统(英文)
容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，Windows NT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。更多特性使stress-measure能力适合广泛的可靠性测试。
下载说明
- 发布公司：吉时利公司
- 文件大小：1268.51 Kb
- 更新时间：2010-03-04 16:36:08
- 官网：http://www.keithley.com.cn
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