这篇白皮书解释在面对90纳米和65纳米技术标准时,为什么存在DFM/DFY的问题;当未来发展到更小的技术标准时,为什么这些问题将变得更加严重,以及为什么传承下来的设计工具和流程无法经过简单的装配来解决这些问题。同时本文还探讨了当前超深亚微米技术对真正DFM/DFY流程的核心需求。