您现在的位置>>白皮书 > 测试测量 > 高k栅介质中电荷俘获行为的脉冲特征分析
高k栅介质中电荷俘获行为的脉冲特征分析
本文介绍了电荷俘获的原理以及直流特征分析技术对俘获电荷进行定量分析的局限性。接下来，本文介绍了一种超快的脉冲I-V分析技术，能够对具有快速瞬态充电效应（FTCE）的高k栅晶体管的本征（无俘获）性能进行特征分析。
下载说明
- 发布公司：
- 文件大小：564.7 Kb
- 更新时间：2009-12-29 15:05:31
- 官网：
-
EEWorld感谢您的关注!
-
- 相关下载
最新白皮书
热门厂商
提供高准确度的用于产品测试、过程监控、等解决方案
提供高准确度的用于产品测试、过程监控、等解决方案