发改委调查高通垄断细节曝光,高通总裁拜访发改委

2014-07-12 10:45:21来源: 中新网
  中新网7月11日电 据发改委网站消息,美国高通[微博]公司总裁Derek Aberle7月11日第三次率团队到国家发展改革委,就反垄断调查的有关问题交换意见并接受调查询问。

  国家发改委价格监督检查与反垄断局许昆林局长、卢延纯副巡视员与Derek Aberle总裁就高通公司涉嫌违反我国《反垄断法》的情况及解决问题的路径交换了意见。

  同时,高通公司授权副总裁Fabian Gonell等人接受了案件调查人员的调查询问。调查人员重点就以整机作为计算许可费的基础、将标准必要专利与非标准必要专利捆绑许可、要求被许可人进行免费反许可、对过期专利继续收费、将专利许可与销售芯片进行捆绑、拒绝对芯片生产企业进行专利许可以及在专利许可和芯片销售中附加不合理的交易条件等涉嫌违法行为,进行了现场调查并制作询问笔录。

关键字:发改委  高通垄断细节

编辑:北极风 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/xfdz/2014/0712/article_35088.html
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