德州仪器非接触式充电评估套件亮相国际消费电子展

2010-01-11 18:29:39来源: EEWORLD


      日前,德州仪器 (TI) 宣布将在 2010 年国际消费电子展 (CES) 上展示业界首款非接触充电评估套件。届时,TI 将与 Fulton Innovation道在中央大厅 11045 号欢迎您的莅临。该 bqTESLA™ 非接触式充电评估套件是一款基于 Fulton Innovation Coupled™ 智能无线电源技术的高性能易用型开发套件,可充分满足低功耗、非接触式充电解决方案的设计需求。该套件包含单通道发送器、直接电荷接收机 (direct-charge receiver) 以及相关磁性组件,可帮助设计人员加速无线充电功能的开发,支持诸如智能手机、MP3 播放器、上网本及全球定位系统 (GPS) 单元等终端应用。

         

      bqTESLA 无需额外开发软件,便可实现真正的“即插即用”设计功能。参考指南可为设计人员推荐线圈解决方案,实现接收机定制化。此外,bqTESLA 评估套件还可帮助设计人员开发出兼容于 Wireless Power Consortium 正在开发的未来 Qi 标准的系统。

bqTESLA 非接触式充电评估套件的主要组件:
• 发送器评估板;
• 接收机评估板;
• 发送器线圈、屏蔽与磁组件;
• 接收机线圈、屏蔽与磁组件;
• 技术文档

关键字:德州仪器  充电  非接触  国际消费电子展

编辑:于丽娜 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/xfdz/2010/0111/article_2287.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
德州仪器
充电
非接触
国际消费电子展

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved