第一台拥有LTE信令功能的射频测试仪面世

2009-09-22 17:07:20来源: EEWORLD

 

      LTE(长期演进)将是未来几年使UMTS保持竞争力的关键技术。罗德与施瓦茨公司是市场上第一个推出LTE FDD和TDD测试解决方案的供应商;公司为客户提供灵活易用的解决方案,用于LTE信号的产生和分析,并帮助客户进行LTE射频测试和物理层验证。

      R&S®CMW500 宽带无线通信测试仪发布1.0.10.1版本,不仅支持LTE 的FDD(KM500)以及TDD(KM550)的发射机测试,同时也支持使用ARB模式产生LTE的下行信号(KW500)用于LTE接收机分析。采用罗德与施瓦茨公司特有的Multi-Evaluation技术,CMW500可以同时分析UE所发射上行信号的各项指标,包括调制、功率和频谱等。

      在LTE的非信令测试中,可以使用罗德与施瓦茨公司的软件工具R&S®WinIQSIM2™ 产生相应的LTE波形文件(FDD和TDD),利用CMW500的ARB功能,结合以上发射机测试对LTE终端进行全面分析。

      对于LTE信令测试(需要网络模拟器功能),R&S®CMW500 软件版本1.0.10.1提供了附加的呼叫功能;这样可以使得CMW500在与被测件建立信令连接的基础上,对LTE被测件的各项发射指标进行测试。

更多信息请访问http://www.rohde-schwarz.com.cn/news.php?id=238


免费参加R&S LTE上行功率控制在线研讨会

      如何进行LTE中不同的物理层信号及物理信道(PUSCH, PUCCH, SRS)上行功率控制。对此,罗德与施瓦茨公司将在2009年9月23日举办一场在线研讨会,会上还将进一步讨论与3 G(WCDMA)的差异,以及LTE终端上行功率控制测试方法。

[1] [2]

关键字:罗德与施瓦茨公司  在线研讨会  LTE

编辑:于丽娜 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/xfdz/2009/0922/article_1784.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
罗德与施瓦茨公司
在线研讨会
LTE

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved