2012TD-LTE测试技术研讨会23日在京举行

2012-11-23 15:13:46来源: CCTIME飞象网

 为配合正在进行的TD-LTE扩大规模网络技术试验,加快TD-LTE产业走向成熟商用,工业与信息化部电信研究院和TD技术论坛将于2012年11月23日在北京联合举办“2012TD-LTE测试技术研讨会”。

    测试仪表与测试系统的发展与完善,对验证产品性能、推动产业发展都具有重大意义。本次会议的召开得到了主管部门包括工业和信息化部科技司、工业和信息化部电信管理局、工业和信息化部无线电管理局的大力支持,来自中国移动研究院、欧洲电信标准化协会(ETSI,EuropeanTelecommunicationsStandardsInstitute),以及来自重要TD仪表厂商如罗德与施瓦茨(ROHED&SCHWARZ)、安捷伦科技(Agilent Technologies)、安耐特(Anite)、美国国家仪器(NI)、艾法斯(Aeroflex)、安立(Anritsu)、Azimuth Systems、大唐联仪、JDSU、星河亮点的专家与精英工程师,将为与会嘉宾解析TD-LTE技术所面临的测试需求与未来挑战。

    在TD-SCDMA多年艰苦探索和宝贵经验的基础上,TD-LTE国际标准得以确立、形成产业链体系、以及组织研发产业化。2012年,TD-LTE技术在标准、技术试验、产业化、国际化等各方面取得显著进展。在政府主管部门、中国移动和产业链各环节的共同努力下,TD-LTE的产业化进程正在加快推进,扩大规模网络技术试验正加紧进行。

    在TD-LTE规模网络试验和产业化过程中,测试技术作为验证技术和产品的必要手段,对TD-LTE技术和产品的成熟和完善发挥了不可替代的作用。本次TD-LTE测试技术研讨会将总结TD-LTE各阶段测试经验,通过对TD-LTE系统测试、芯片和终端测试及业务仿真测试等领域的技术进行深入研讨,明确TD-LTE测试技术的发展方向,强化产业链薄弱环节,加速推进TD-LTE产业健康、全面、有序发展,力争将TD-LTE打造成具有国际竞争力的新一代宽带无线移动通信产业。

 

关键字:TD-LTE  测试技术  TD技术论坛

编辑:eric 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/wltx/2012/1123/article_10621.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
TD-LTE
测试技术
TD技术论坛

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved