工信部科技司处长:TD-LTE测试仪表和FDD相比还有差距

2012-11-23 13:41:33来源: CCTIME飞象网 关键字:工信部电信研究院  TD技术论坛  2012TD-LTE测试技术研讨会  董晓鲁
11月23日上午消息,在工信部电信研究院TD技术论坛合办的“2012TD-LTE测试技术研讨会”上,工信部科技司处长董晓鲁表示终端芯片和测试仪表是TD-LTE的关键环节也是薄弱环节,测试仪表和FDD相比还有差距。

    近期工信部将2.6GHz频段的2500-2690Hz全部划归TDD频谱,TD-LTE商业化发展迈出了关键一步。而TD-LTE测试技术也在稳步推进。

    对此,工信部科技司处长董晓鲁认为TD-LTE测试技术和FDD相比还有一段差距。“终端芯片和测试仪表是TD-LTE的关键环节也是薄弱环节。TD-LTE终端芯片和FDD差距已经缩小,但是在测试仪表方面还有较大差距。”董晓鲁提到。

    据了解,TD-LTE首次终端招标结果已经出炉,有16家企业中标,总计获得3万多终端的采购,涉及到TD-LTE数据卡、手机等多类终端。

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编辑:eric 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/wltx/2012/1123/article_10600.html
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