专家解析2011年云安全五大趋势

2011-03-19 13:15:34来源: 互联网 关键字:云安全  安全模型  五大趋势

    CSO(首席安全官)和其他IT安全专家2011年首要考虑的云安全问题将会有哪些?未来一年中敬请留意以下五点:

    智能手机数据

    Qualys公司的CSO及云安全联盟(CSA)成员Randy Barr表示,越来越多的用户将访问他们自选设备中的大量数据。

    Barr称:"与此同时,这也将带来许多未解决的安全问题,我们可以期待新的解决方案来应对移动设备,但在此之前,大量的数据泄漏会暴露出相关的移动安全问题。这其中可能的脚本包括移动设备上不可靠的云备份和高度机密资料。"

    在移动设备上使用多种云服务时,不同的安全模型和条件之间会存在一些相互依存性。云服务提供商在支持移动用户使用基于云的移动设备的同时,提供了许多机密移动设备数据的访问。此外,移动设备的遗失或被盗能提供对云服务和数据进行根级别的访问。移动应用程序通常会直接和自动地提供云服务和数据的访问。如果管理人员的移动设备被盗,亦或是利用不可靠的移动设备管理云服务,都将成为高度机密数据的主要威胁。

    需求更完善的访问控制和身份认证管理

金融服务公司ING的IT策略和架构高级副总监Alan Boehme称:"云本质上是高度虚拟化和高度联合的,你需要一种方法,在自有云与他人云之间创建控制和管理身份。现在已经有第三方厂商交付了可以解决这些问题的产品和服务,但这些可能不适合那些传统环境与云环境结合的大企业。"

    持续关注法规遵从

    Andy Ellis首席安全官Akamai表示:"我认为法规遵从(特别是PCI)有可能仍是一项安全问题。企业还需要经常应对各种完全不同的流程来管理云中的数据和应用程序。我们将看到更多关于云数据的安全保障案例。"

    多租户的风险

    Sword &Shield Enterprise Security安全评估和风险总监、IANS教学成员Dave Shackleford表示,鉴于大多数云服务都大量运用虚拟化技术,将多个组织的数据封装在一个物理管理程序平台中就会存在相关的风险,除非制定具体的细分规则。

    虽然已经假定虚拟机和虚拟网络组件会被"默认分离",但管理程序平台的缺陷和潜在弱点已经证明云会产生细分问题。

    Shackleford表示,关于缺陷最有利的证明是去年大家关注的Kostya Korchinsky豁免案。Korchinsky"攻击"了VMware虚拟机,并运用被称为CloudBurst的概念验证工具在基础虚拟层系统中执行了一段程序。Shackleford还表示在2008年 Core Security发现了一个目录缺陷,它可允许攻击者从虚拟机上访问管理程序的文件。

    云标准和相关认证的出现

    Barr表示,由于选择云服务时可进行安全评估,标准和认证将对帮助用户估计其数据所需安全级别起到极其重要的作用。云用户也可继续利用其现有的流程去评估云提供商的安全态势,但有望出现更多开发指南和标准的民间组织。

关键字:云安全  安全模型  五大趋势

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/wltx/2011/0319/article_4946.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。

上一篇:云服务应用日趋升温 满足业务目的将成重点
下一篇:物联网安防典型应用之智能视频客流统计

关注eeworld公众号 快捷获取更多信息
关注eeworld公众号
快捷获取更多信息
关注eeworld服务号 享受更多官方福利
关注eeworld服务号
享受更多官方福利
推荐阅读
全部
云安全
安全模型
五大趋势

小广播

独家专题更多

TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
汇总了TI汽车信息娱乐系统方案、优质音频解决方案、汽车娱乐系统和仪表盘参考设计相关的文档、视频等资源
迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
​TE工程师帮助将不可能变成可能,通过技术突破,使世界更加清洁、安全和美好。
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2017 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved