R&S测试解决方案成功验证ASTRI的TD LTE微型基站

2010-04-06 18:42:22来源: EEWORLD


      香港应用科技研究院有限公司(ASTRI)采用罗德与施瓦茨公司(R&S)领先的LTE测试方案,对其TD-LTE微型基站成功地进行了验证测试。根据3GPP规范TS36.141的最新版本要求,必须对发射机和接收机的特性以及衰落条件下接收机性能进行测试。作为验证测试的一部分,两家公司在实时条件下对基站的HARQ和timing-advanced功能进行了业内首次测试。

      对于TD LTE信号的产生,既可以使用罗德与施瓦茨公司的基带信号源AMU也可以使用射频信号源SMU。为了满足射频一致性测试要求,LTE上行链路实时反馈功能在SMU和AMU上均已实现。待测的微型基站由ASTRI使用picoChip的平台设计,可以发送符合3GPP规范的实时反馈信号给信号源。在这种方式下,可以对上行HARQ以及Timing-advanced功能进行验证测试。为了正确模拟基站和终端之间的反馈行为,这两项功能是必须的。此外,该测试可以在所定义的衰落条件下测量得到基站的吞吐量,而此吞吐量可用来衡量基站的接收机性能。

      罗德与施瓦茨公司的测试设备与解决方案一直用于ASTRI LTE的基站的研究与开发。新的测试解决方案也成功的应用于LTE FDD基站射频一致性测试。

 

关键字:R  S  测试  验证  ASTRI  LTE  基站

编辑:于丽娜 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/wltx/2010/0406/article_605.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
R
S
测试
验证
ASTRI
LTE
基站

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved