测量10GEPON芯片组的测试方案和工具问世

2009-12-09 19:52:22来源: EEWORLD 关键字:测量  10gepon  芯片  芯片组

      运用安立公司的MP1800A系列误码测试仪成功测量K-micro公司的 CTXL1 10G EPON SerDes 芯片, 为10G EPON系统上市铺平了道路

      ASIC制造领域的领导者 K-micro公司,,和安立公司共同宣布开发出全球第一款测量分析10Gbps EPON芯片组的测量方法和工具,运用安立公司的MP1800A系列误码测试仪成功测量K-micro公司的 CTXL1 10G EPON SerDes 芯片的突发性能, 为10G EPON系统上市铺平了道路

      运用这套测量方法精确测量出K-micro公司的10G EPON SerDes CTXL1芯片组突发锁定时间达到前所未有的20奈秒。“通过与拥有卓越测量技术的安立公司合作,开发了这样一套EPON芯片组的测量方案,用户已经为10G EPON做好了准备,现在就需要知道他们使用的芯片组是否能够满足产品的指标需求”,K-micro公司的CTO Vijay Pathak说。

      评估10G EPON OLT突发模式SerDes的两个主要挑战是:

    1.  误码仪只能计算净负荷数据和分隔区数据的误码,用于同步的前导数据区不应该计算误码。
    2.  SerDes 必须对每一个突发包保持同样的时延;或者说,误码仪必须允许不同突发包间的时延不一致。

      MP1800A系列误码仪功能强大的PPG和ED模块很容易地精确测量误码率,CTXL1芯片组特有的内置自测功能能够成功地将不同突发包的时延调整到一致,这样误码仪就不需要针对不同的突发包作时延调整就可以测量误码。使用这两种边缘调整技术使得误码仪可以测量10.3125Gbps速率误码率低于1.0E-12时的突发模式锁定时间。

      “K-micro公司10G EPON芯片组锁定时间的成功测量是10G EPON投入应用的重大一步” 安立公司的Kim Collins介绍说,通过两个公司的紧密合作,克服了以前难于测量这种技术的困难,客户可以得到希望的测试结果。

关键字:测量  10gepon  芯片  芯片组

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/wltx/2009/1209/article_242.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。

上一篇:Nanotech收购前英特尔10Gbps芯片团队
下一篇:光纤产业前景看好 创新能力有待加强

关注eeworld公众号 快捷获取更多信息
关注eeworld公众号
快捷获取更多信息
关注eeworld服务号 享受更多官方福利
关注eeworld服务号
享受更多官方福利
推荐阅读
全部
测量
10gepon
芯片
芯片组

小广播

独家专题更多

东芝在线展会——芯科技智社会创未来
东芝在线展会——芯科技智社会创未来
2017东芝PCIM在线展会
2017东芝PCIM在线展会
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
汇总了TI汽车信息娱乐系统方案、优质音频解决方案、汽车娱乐系统和仪表盘参考设计相关的文档、视频等资源
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2017 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved