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KLA-Tencor

在电子工程世界为您找到如下关于“KLA-Tencor”的新闻

拓展IC封装产品系列,KLA-Tencor推出全新缺陷检测产品
 KLA-Tencor公司今日宣布推出两款全新缺陷检测产品,旨在解决各类集成电路(IC)所面临的封装挑战。 Kronos™ 1080系统为先进封装提供适合量产的、高灵敏度的晶圆检测,为工艺控制和材料处置提供关键的信息。 ICOS™ F160系统在晶圆切割后对封装进行检查,根据关键缺陷的类型进行准确快速的芯片分类,其中包括对侧壁裂缝这一新缺陷类型(影响高端封装良率...
类别:其他技术 2018-08-31 标签: IC封装 缺陷检测
晶圆检测设备制造商科磊KLA-Tencor周一宣布,它已经达成了收购以色列自动光学检测(AOI)系统供货商奥宝科技(Orbotech Ltd.)的最终协议。科磊将以每股69.02美元的价格(包括每股38.86美元的现金以及0.25股的科磊普通股)收购Orbotech。科磊表示,此次收购将使KLA-Tencor的收入来源多元化,并增加在快速增长的PCB,FPD,封装和半导体...
类别:半导体生产 2018-03-21 标签: KLA-Tencor Orbotech 半导体
先进制程挑战大,KLA-Tencor:控制要从源头出发
KLA-Tencor拥有广泛的产品线可覆盖整个半导体生产过程的检测与量测需求,帮助客户应对不同应用、不同市场的挑战。比如对低功耗、高靠性有高要求的移动设备,争取更快的面世时间是赢取市场的最重要因素,这就要求生产过程中的误差最小化。”KLA-Tencor Customer Engagement副总裁Mark Shirey在11月10日于上海举办的媒体会上如是说。 ...
类别:工业电子 2017-11-16 标签: 科天 科磊 KLA-TENCOR
制程控制在源头!设备供应商KLA-Tencor将持续投入中国市场
集微网消息,随着先进制程的不断推进,从28nm,到目前的14nm,以及未来的7nm,3nm,工艺的复杂度也不断提升,制造成本也随之增加。制造过程中任何细小的错误都将导致重新流片,而其代价将会很大,因此在制造过程中,检测和量测变得越来越重要,越早发现问题所在,可挽回的损失越大。近期,全球领先的工艺控制及良率管理解决方案的设备供应商KLA-Tencor在上海举办媒体会,分享...
类别:综合资讯 2017-11-15 标签: KLA-Tencor
KLA-Tencor公司针对7纳米以下的IC制造推出五款图案成型控制系
KLA-Tencor公司(纳斯达克股票交易代码:KLAC)今天针对7纳米以下的逻辑和尖端内存设计节点推出了五款图案成型控制系统,以帮助芯片制造商实现多重曝光技术和EUV光刻所需的严格工艺宽容度。在IC制造厂内,ATL™叠对量测系统和SpectraFilm™ F1薄膜量测系统可以针对finFET、DRAM、3D NAND和其他复杂器件结构的制造提供工艺表征分析和偏移监控...
类别:半导体生产 2017-09-15 标签: KLA-Tencor
电子网消息,KLA-Tencor公司今天针对7纳米以下的逻辑和尖端内存设计节点推出了五款图案成型控制系统,以帮助芯片制造商实现多重曝光技术和EUV光刻所需的严格工艺宽容度。在IC制造厂内,ATL™叠对量测系统和SpectraFilm™ F1薄膜量测系统可以针对finFET、DRAM、3D NAND和其他复杂器件结构的制造提供工艺表征分析和偏移监控。Teron™ 640e...
类别:半导体生产 2017-09-13 标签: KLA-Tencor 7纳米
 KLA-Tencor公司(纳斯达克股票交易代码:KLAC)今天针对7纳米以下的逻辑和尖端内存设计节点推出了五款图案成型控制系统,以帮助芯片制造商实现多重曝光技术和EUV光刻所需的严格工艺宽容度。在IC制造厂内,ATL™叠对量测系统和SpectraFilm™ F1薄膜量测系统可以针对finFET、DRAM、3D NAND和其他复杂器件结构的制造提供工艺表征分析和偏移...
类别:半导体生产 2017-09-13 标签: KLA-Tencor
今天,KLA-Tencor公司(纳斯达克股票交易代码:KLAC)宣布推出全新的FlashScan空白光罩*检测产品线。自从1978年公司推出第一台检测系统以来,KLA-Tencor一直是图案光罩检测的主要供应商,新的FlashScan产品线宣告公司进入专用空白光罩的检验市场。光罩坯件制造商需要针对空白光罩的检测系统,用于工艺开发和批量生产过程中的缺陷检测,此外,光罩制造商...
类别:材料技术 2017-08-18 标签: KLA-Tencor EUV 光罩
电子网消息,今天,KLA-Tencor公司宣布推出全新的FlashScanTM空白光罩*检测产品线。自从1978年公司推出第一台检测系统以来,KLA-Tencor一直是图案光罩检测的主要供应商,新的FlashScan产品线宣告公司进入专用空白光罩的检验市场。光罩坯件制造商需要针对空白光罩的检测系统,用于工艺开发和批量生产过程中的缺陷检测,此外,光罩制造商(“光罩厂”)为了进行...
类别:半导体生产 2017-08-17 标签: KLA-Tencor
KLA-Tencor为尖端集成电路器件技术推出全新量测系统
KLA-Tencor公司今天针对10纳米以下(sub-10nm)集成电路(IC)器件的开发和批量生产推出四款创新的量测系统:Archer™600叠对量测系统,WaferSight™ PWG2图案晶片几何特征测量系统,SpectraShape™ 10K光学关键尺寸(CD)量测系统和SensArray® HighTemp 4mm即時...
类别:综合资讯 2017-03-15 标签: KLA-Tencor 集成电路器

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KLA-Tencor发布VoyagerTM 1015和Surfscan®SP7缺陷检测系统解决工艺和设备监控中的两个关键挑战 2018年7月11日-- 今天,KLA-Tencor公司(纳斯达克股票代码:KLAC)宣布推出两款全新缺陷检测产品,在硅晶圆和芯片制造领域中针对先进技术节点的逻辑和内存元件,为设备和工艺监控解决两项关键挑战。VoyagerTM 1015系统提供了检测图案化晶圆...
303次浏览 2018-07-11 综合技术交流

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半导体领域的核心竞争力,从设计上说,最牛逼得是美国硅谷,所有仿真用的软件都是老美做的,知识产权巨贵,利润也是产业链中最大,老美自己把的牢牢地。然后是半导体芯片的制造,制造的核心竞争力就是生产设备、生产材料还有生产工艺,生产设备上目前业界只有这几个国家,美国(应用材料、lam、kla-tencor等)、欧洲(ASML等)、日本(Nikon、TEL等)。我兔仔近十年大力投入装备制造业,目前可以生产一些...

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equipment. WAFER PROCESSING EQUIPMENT for Sale : ADE 9500 Ultraguage ADE / KLA-Tencor AFS 3220FA Mark IV metrology system (for thickness, flatness, & shape measurement) Anatech/Technics...
1857次浏览 2010-02-01 信息发布 标签: 资料 start 半导体 purchase customers

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2944次浏览 2010-01-18 【LED专区】 标签: MOCVD 测试机设备 半导体

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) Karl Suss MA200CC Mask Aligner Karl Suss MA150 Mask Aligner KLA-Tencor 5100XP Overlay Tool, upto 8" (3 qty) KLA-Tencor 5200, 5300 Overlay tools (coming soon) KLA-Tencor 5500 Surfscan...
2243次浏览 2009-12-24 信息发布 标签: customers includes 二手设备 solutions equipment

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1833次浏览 2009-12-17 信息发布 标签: customers 半导体 equipment includes

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