IEEE公布新JTAG标准,全产业链统一格式

2013-06-24 08:31:27来源: EETTaiwan

IEEE公布了更新版的 IEEE 1149.1-2013 「测试存取埠与边界扫描架构标准(Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture)」,也就是由产业界熟知的 JTAG (Joint Test Action Group) 所负责管辖的标准;新版标准旨在藉由透过利用独立于各家供应商、阶层式的测试语言(hierarchical test languages),实现横跨整个IC生命周期阶段的测试重复使用(test re-use),为电子产业界大幅降低成本。

IEEE 1149.1 标准最初是在2001诞生,新版标准可让关键领域的矽智财(IP)专门技术──例如如何配置一个回反测试(loopback testing)应用的串行/解串器(serializer/deserializer,SERDES)──转换成IP设计者与 IC设计者、印刷电路板(PCB)设计工程师、测试工程师都能用电脑读取的格式,为整个供应链都带来成本节约的效应。

IEEE 1149.1-2013估计可为电子产业界带来的成本节约效应高达数十亿美元,该标准定义了一个新的阶层式程序定义语言(Procedural Definition Language,PDL)──是一种以Tcl为基础的标准测试语言,阶层扩展至原始边界扫描叙述语言(Boundary Scan Description Language,BSDL),描述晶片上的IP测试资料暂存器(data register)。

此外有8个新的IC指令级选项,为板级测试的配置I/O提供基础,可减缓在电路板等级重复测试IC时可能出现的假性故障(false failures),并透过电子晶片识别码(Electronic Chip ID)回溯关联至晶圆级测试结果。

现在,IP供应商能将IP测试介面以及如何运作IP的方法,以类似英文的语言建档,而且所有的IC都只需要做一次,然后在IC与电路板等级以软体工具重新指向(re-target)以上文件以进行测试;总之在新版的IEEE 1149.1中,工作小组聚焦于两大重点:一是藉由新的PDL语言降低产业界成本,二是在IC的整个生命周期支援测试重复使用。

IEEE 1149.1-2013也提供与其他两项重要产业标准的关键偕同效应,一是支援IEEE 1801-2013 「低功耗IC测试与验证标准(Standard for Design and Verification of Low Power Integrated Circuits)」所规范的跨电源域分段式(segmented)晶片上测试资料暂存器。

其二是IEEE 1149.1-2013让IP的描述与运作符合IEEE 1500-2005 「以嵌入式核心为基础的IC可测试性方法标准(Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits)」所规范的架构。此外,新标准也加入了对IEEE 1500 Wrapper Serial Ports的支援。

编译:Judith Cheng

(参考原文: IEEE 1149.1 'JTAG' revision could save billions,by Julien Happich)

关键字:JTAG

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/qrs/2013/0624/article_14811.html
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