GE在世界无损检测大会上展示新无损检测技术

2008-11-06 11:45:51来源: 电子系统设计

      无损检测GE传感与检测科技不久前在上海召开的世界无损检测大会(WCNDT)上展出了其在无损检测(NDT)领域的最新解决方案。作为此次大会的主赞助商,该公司推出了一系列尤其引人注目的产品,其中包括:第一台真正意义上的手持式工业视频内窥镜XL Go、CRx Flex计算机射线成像扫描仪(专为NDT领域开发)、Phasec 3系列便携式涡流探伤仪以及全新的Phasor系列便携式相控阵探伤仪。

      所谓NDT,即Non-destructive testing,是指对材料或工件实施一种不损害或不影响其未来使用性能或用途的检测手段。广泛的应用于石油天然气、航空航天、电力、汽车以及通用工程领域。在半导体领域,NDT一词也并不陌生。无论在SOI、半导体抛光晶片缺陷检测、高速信号处理检测、集成电路焊接的检测方面,都可以看到NDT技术活跃的身影。而在对品质要求极为严格的汽车半导体领域,NDT也在受到越来越多汽车半导体厂商的重视。

     “同其他行业一样,NDT同样广泛的使用在半导体和电子制造业。”在大会第二天举行的记者会上,GE传感与检测科技业务总监Jeff Anderson表示,“比如我们的Phoenix X扫描系统,无论在半导体制造、元器件的检测还有印刷板的检测上都有着相当广泛的应用。”

      尽管早在一年前GE就已经收购了德国Phoenix X射线公司,但是此次大会才是两者技术结合后的首次联袂亮相。Phoenix X系列的新产品,计算机断层和2D微焦点及纳米焦点X射线扫描系统成为GE展台上较为引人注目的产品之一。

      Phoenix X计算机断层扫描系统的应用范围相当广泛。从紧凑型实验室系统(如Nanotom)到花岗岩工作台上的CT,不一而足。此外,它在汽车行业也有广泛应用。“每一项设计工作都是为了精确运行而进行的。此外,我们还配备了GE内部开发的数据采集和断层扫描软件,以便更加轻松地对系统进行控制,从而迅速精确的重构被测物体的数据。”

关键字:GE  无损检测  汽车电子  半导体

编辑:王程光 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/qcdz/2008/1106/article_541.html
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