南洋理工大学和与美国莱斯大学合力解决IC功耗问题

2007-09-10 09:08:37来源: 国际电子商情

新加坡南洋理工大学(NTU)准备成立研究机构,针对IC功耗、散热和漏电问题进行研究。

NTU称,该机构叫作Institute for Sustainable Nanoelectronics,是和位于美国休斯顿的莱斯大学(Rice University)联合建立的,主要任务是设计开发“下一代”嵌入式芯片,和现在的产品相比,这种芯片的功耗将减小100倍,并且制造成本也会有所下降。

据悉,该机构在未来的两年中预计将投入260万美元用于购置设备。莱斯大学计算机科学教授Krishna Palem将承认机构主管。

NTU表示,该机构的成果将为芯片设计方法带来革命性的转变,一种在各种平台通用的设计方法将有此诞生。

关键字:嵌入式  设备  漏电

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