安捷伦新推超小型测试头,瞄准消费电子SoC测试需求

2006-03-23 15:03:53来源: 互联网

安捷伦科技公司日前宣布针对数字和混合信号消费器件测试推出93000超小型测试头(CTH),藉此进入低成本自动测试设备(ATE)市场。安捷伦在93000可扩充平台中最新增加了这一产品,满足了制造商对测试复杂的高性能系统级芯片(SOC) 不断增长的低成本解决方案需求。目前,这些SOC正广泛用于大批量低成本消费电子器件中。

93000超小型测试头灵活性高,进一步保护了制造商在自动测试设备中的投资。它体积小,可以有效用于供应链及一系列环境中,包括工程设计、晶片筛选和最终测试。它满足了一系列SOC应用的测试需求,如LCDTV控制器、DVD、光驱、便携式媒体播放器中使用的嵌入式存储器、高速通信接口和优质音频/视频接口。

“在购买自动测试设备时,性能和产品使用寿命是消费电子器件制造商面临的重要因素。”安捷伦半导体测试业务副总裁Pascal Ronde说,“93000超小型测试头不同于其它低端测试仪,其它测试仪具有只能在本产品线内扩充和兼容的限制,没有明确的战略,解决供应链中效率低下的问题。93000超小型测试头利用93000平台结构,提供了一种低成本、高性能、可扩充的解决方案,并且能够兼容全系列93000解决方案。”

93000超小型测试头实现了93000平台优异的测试质量,并拥有老牌93000平台中相同的特性,如可扩充的结构、Pin Scale数字模块、高级模拟模块和RF模块、SmarTest软件、被测设备(DUT)电路板和模块。由于其先进的集成度,“零空间”的93000超小型测试头几乎不占用地板空间,最多四个超小型测试头可以共享一个冷却单元。93000 CTH的主要特点包括:18个灵活的硬件插槽,其中16个插槽可以指配用于数字、模拟或RF卡;基于PCI Express的新传送链路,可以快速上传和下载测试仪数据及增强的DC测试功能,为超小型测试头提供了更高的吞吐性能。

关键字:测试  ATE  SoC

编辑: 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/news/measure/200603/593.html
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