Cadence QRC Extraction工具首发满足台积电45nm制程技术

2007-06-20 11:36:34来源: 电子工程世界

        为45nm设计提供高性能的硅精确寄生参数提取

【2007年6月20日,加州圣荷塞及台湾新竹】全球电子设计创新领先企业Cadence设计系统公司(NASDAQ: CDNS)及台湾积体电路制造股份有限公司(TSE: 2330, NYSE: TSM)今天宣布, Cadence QRC Extraction寄生参数提取工具可用于台积电的45纳米(nm)工艺技术。设计师可以立即使用Cadence的QRC Extraction来进行快速和复杂的45nm设计。

45nm工艺带来了先进技术的典型挑战,其中包括侵蚀性的设计规则、更小的SRAM单元和更高的门密度。当制程技术缩小尺寸至45nm时,制造效应会对可制造性设计产生影响,这些问题需通过精确的提取技术加以解决,以确保得到可靠的设计。

台积电已验证QRC Extraction可以提供针对45nm 制造效应的精确处理。Cadence QRC Extraction可以为面向消费电子、移动设备、RFID、有线/无线网络系统等高成长性IC市场的设计师提供支持。在快速和复杂的无线SoC及RF集成电路方面需要高度精确提取的设计师,现在就可以使用用于台积电45nm工艺技术的Cadence QRC Extraction工具。

“ Cadence的QRC Extraction是业界第一个提取解决方案,用于解决在45nm工艺时由于CMP和光刻工艺以及使用超低k材料而带来的一些全新挑战。新的电气模型开发对于精确预测IC硅片互连行为和在45nm工艺解决制程可变性问题是非常必要的。”

Cadence公司研发副总裁Rachid Salik博士表示,“Cadence的 QRC Extraction可以为快速的SoC提供目前最全面的寄生参数提取。我们非常高兴能与台积电合作,来提供硅精确的提取解决方案。”

“ Cadence QRC Extraction成功的满足了对精确提取的技术需要,完全匹配台积电流片后的结果。”台积电设计服务营销代理总监Kuo Wu表示,“Cadence的QRC Extraction可以达到测量和提取的结果间的一致性。”

关键字:材料  电气  测量  寄生

编辑: 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/news/eda/200706/14236.html
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