安捷伦科技推出第一个在线非向量测试功能及测量技术

2007-04-25 10:25:11来源: 电子工程世界

检测电源针脚和接地针脚上的缺陷的一项新技术

上海国际电子生产设备暨微电子工业展览会, 2007年4月24日讯-- 安捷伦科技公司(NYSE: A)日前宣布,推出安捷伦Medalist VTEP v2.0,这是由非向量测试功能组成的套件,其中包括新的NPM测量技术。

这一测试功能是在世界上第一次包括NPM测量技术。用户可以检测连接器上电源管脚和接地管脚中的开路,而许多业内人士曾一度认为这超出了现有测试能力的范围。

随着信号在电路板上传输的速度越来越高,如在PCIe、DDR和SATA 连接器上,正确接地正变得日益关键。随着速度提高,接地针脚上的开路可能会导致信号集成的设计范围降低,误码率(BER)提高,放射电磁干扰(EMI)提高。

安捷伦VTEP v2.0是为帮助制造商检测这些关键缺陷而设计的,功能测试和产品发售中可能检测不到这些缺陷,在后期可能会给制造商带来更高的成本。

此外,通过VTEP v2.0,用户可以获原有得VTEP技术的优势,如更高的灵敏度,更有效地降低噪声;同时获得iVTEP的优势,该技术面向采用最小引线框或不带引线框的超小型集成电路封装。iVTEP还适用于带有散热片的设备及带有附加散热器的器件。

安捷伦在线测试市场经理NK Chari说,“VTEP v2.0提供了非向量测试必须提供的最佳功能。”通过采用原有的VTEP技术作为核心,采用关键创新功能进行增强,如屡获大奖的iVTEP和新的NPM测量技术,VTEP v2.0使得用户可以更好地了解系统状况,弥补了以前在无矢量测量覆盖方面缺失的信息。

Chari接着说,“我们希望制造商获得这种重要的创新技术,我们相信,这一技术将提供前所未有的全新的覆盖范围,正因如此,我们在所有新的Medalist i3070系统中免费提供VTEP v2.0。”

?安捷伦今天还为印刷电路板组件推出Medalist i3070在线测试系统。如需与Medalist i3070有关的更多信息,请参阅:www.agilent.com/about/newsroom/presrel/2007/20feb-em07014.html

VTEP v2.0采用与原有VTEP相同的硬件,因此不要求进行硬件升级。

如需更多信息,请访问:www.agilent.com/see/vtep。产品照片请访问:www.agilent.com/find/vtep_images

关于安捷伦Medalist ICT系列

?安捷伦Medalist在线测试(ICT)系列提供了业内领先的ICT灵活性,解决了电子器件制造商面临的实际问题。该系列采用可扩充的结构,分成单模块、两模块和四模块配置,解决了生产线上所能面临的最大的资源分配的问题。兼容的设计和经过验证的ICT技术实现了业内无可比拟的测试移植能力、稳定性和可重复性,可以全面自由地在不同系统、生产线和站点之间的测试转移,而不会降低测量准确性。

如需更多信息,请访问安捷伦网站:www.agilent.com/see/ict

关于安捷伦科技

安捷伦科技公司(NYSE:A)是全球领先的测量公司,同时也是通信、电子、材料和生命科学等领域的技术领导者。公司拥有19,000名员工,遍及全球110多个国家,为客户提供卓越服务,曾被评为“世界最佳供应商”。在2006财政年度,安捷伦的净收入达到50亿美元。如欲了解关于安捷伦的详细信息,请访问http://www.agilent.com

关键字:检测  连接  电源  管脚

编辑: 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/newproducts/measure/200704/13333.html
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