datasheet

murata村田

文章数:513 被阅读:114689

账号入驻

S-parameter测量概要 (MLCC)

2018-11-09
    阅读数:

S-parameter library提供能够用于电路设计时的仿真的芯片积层陶瓷电容器的S-parameter数据。在此,对S-parameter数据的测量步骤、所使用的试验线路板、测量装置、测量条件进行说明。 


测量步骤 

以下介绍本测量的步骤。此外,主要以图1所示的方法使用网络分析器和测量夹具在2个端口上测量S-parameter。


1. 校正

使用SOLT (部分SOL) 校正和TRL校正2种方法进行校正。SOLT校正使用本公司生产的Short, Open, Load, Thru线路板校正低频率侧的领域。与此相反,TRL校正使用本公司生产的Thru, Reflect, Line, Match线路板校正高频率侧的领域。此外,校正基准面是焊盘图案的端面。


2. 测量

将样品焊接在线路板上,然后固定在与网络分析器/阻抗分析器相连接的测量夹具上进行测量。


3. 抽取样品单品的S-parameter数据

所测量的S-parameter数据虽然已经根据校正和电气长修正除去了试验线路板和测量夹具的特性,但还包含通孔和焊盘图案的特性。因此,从测量结果中除去了通孔和焊盘图案的特性,抽取样品单品的S-parameter数据。

图1: S-parameter测量


试验线路板

本测量所使用的试验线路板如下所示。图2显示了焊盘图案。

图2: 焊盘图案尺寸


测量装置 

本测量所使用的测量装置如下所示。


温度补偿用电容器 ※1,000pF以上的与高诱电型电容器的条件相同。

  • 阻抗分析器: E4991A (Keysight Technologies)

  • 网络分析器: E5071C/N5225A (Keysight Technologies)

  • 测量夹具: PC・SMA/PC・V (YOKOWO)


高诱电型电容器

  • 网络分析器: E501B/E5071C (Keysight Technologies)

  • 测量夹具: PC・SMA (YOKOWO)



测量条件

本测量将测量频率范围分为低频率领域和高频率领域两种,分别采用适合各自领域的测量条件。表1、表2分别表示温度补偿用电容器及高诱电型电容器的测量条件。


※1000pF以上的与高诱电型电容器的条件 (表2) 相同。




更多信息敬请点击“阅读原文”了解。


推荐阅读

村田发布面向NI AWR Software的高功能组件库

村田制作所告诉你电池能多薄

村田扩大面向PoE用绝缘型DC-DC转换器产品阵容

村田推出经汽车用安全标准认定的金属端子型多层陶瓷电容器

村田设计辅助工具“SimSurfing”增加了快速、方便的电源电路设计辅助功能

村田超小32.768kHz MEMS谐振器即将量产

晶体谐振器的振荡裕量,你知道吗?

村田高级执行副总裁看好未来村田产品在汽车方面的应用

【新品】村田推出超小型32.768kHz MEMS谐振器

【工程师必读】如何快速了解村田磁珠选型

村田助力未来无人驾驶技术

科学经营案例:村田制作所探究

如今的可穿戴市场,智能手表有独特优势

【方案】车载LAN用共模扼流线圈的CAN静噪对策

【方案】将薄膜电容器替换为多层陶瓷电容器

MEMS成穿戴式“支柱” 健康设备受益风生水起

紧跟市场风向标,村田不断深入智能照明领域布局

RFID的应用市场快速增长和扩大

【通知】关于21号台风(飞燕)对村田的影响说明

陶瓷电容的这些失效问题,你都知道吗?

【干货】超详细村田电感产品知识详解

别让等效串联电阻浪费电能及损耗电容

超薄硅电容,轻松实现80层陶瓷层的有效容值

立足功率电感多元化布局,村田进一步加码被动元件市场

多层陶瓷电容(MLCC)漏电原因分析


  如需了解其他内容,请关注后反馈给我




About Us 关于我们 客户服务 联系方式 器件索引 网站地图 最新更新 手机版

站点相关: TI培训

北京市海淀区知春路23号集成电路设计园量子银座1305 电话:(010)82350740 邮编:100191

电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2018 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved