基于实验方法揭示竞争冒险的成因奥秘二

2012-10-09 16:32:02来源: 互联网 关键字:实验方法  竞争冒险
4.3 竞争冒险各参数间的关系

  记录表中A1在上升沿的各参数全部为0,而下降沿除了t≈0其他参数出现了较小数值。A3的上升沿和下降沿,各参数都在迅速增大。A5以及A7 ~A11的上升沿和下降沿,有的参数趋于稳定,有的参数继续增大。各参数的演变说明如下。

  ⑴竞争冒险的演变,经历萌生期、发展期和成熟期。A1是萌生期,Vp-p≈0.06V,干扰脉冲雏形开始生成;A3是发展期,Vp-p≈0.7~0.9V小于开门电平;A5~A11是成熟期,Vp-p≈2.7~3.2V大于开门电平。表明萌生期、发展期是安全期,干扰脉冲不具危害,而成熟期是危险期,干扰脉冲存在极大危害性。

  ⑵关于t和Vp-p:在萌生期t≈0,Vp-p≠0;在发展期t、Vp-p都在迅速壮大;在成熟期t、Vp-p继续增大。表明t大则Vp-p大,t、Vp-p之间存在一定的比例关系。

  (3) 关于t和tp:除了萌生期t≈0外,在发展期和成熟期,t的上升沿/下降沿变化范围45~100ns/65~115ns,tp的上升沿/下降沿变化范围50~105ns /50~90ns,表明t与tp大致相等。

  (4) 关于Vp1/Vp0:上升沿1.6V/3.0V~2.1V/3.3V,下降沿1.6V/1.6V~3.8V/4.1V,表明不同期的干扰脉冲幅度大小不等、状态位置不同。

  5 竞争冒险的抑制措施设置

  揭秘竞争冒险的成因,旨在竞争冒险的研究和应用。由记录表知道,A3的Vp-p小于开门电平,A5的Vp-p大于开门电平,所以,在发展期和成熟期之间设置竞争冒险抑制措施较为适宜。因此,竞争冒险抑制措施。比如封锁脉冲、滤波电容、修改逻辑等方法都可抑制或消总有两面性,竞争冒险也不例外,已有文献报道,将竞争冒险用于集成电路设计取得了满意效果[6]。

  6 结语

  竞争冒险的产生与信号频率无关;时间延迟t大则干扰脉冲幅度Vp-p大,时间延迟t与干扰脉冲宽度tp大致相等,不同期的干扰脉冲幅度大小不等,状态位置不同;时间延迟、过渡时间、逻辑关系和延迟信号相位,构成竞争冒险的产生条件。当电路满足产生条件时,则一定产生干扰脉冲。竞争冒险的演变过程,经历萌生期、发展期和成熟期。萌生期、发展期是安全期,干扰脉冲不具危害,而成熟期是危险期,干扰脉冲存在极大危害性。竞争冒险抑制措施,建议电路从第四级门开始设置。为对干扰脉冲的全面认识,本文同时也给出了不同时期干扰脉冲的宽度tp、状态位置Vp1/Vp0以及变化范围。

关键字:实验方法  竞争冒险

编辑:神话 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/mndz/2012/1009/article_17038.html
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