用于测试电容的电路

2012-03-22 17:28:09来源: 互联网 关键字:测试电容
电解电容会随时间而泄漏。图1中的电路可以用来测试电容,决定它们是否值得使用。通过CREF/RREF比值可以设定对泄漏的限制条件。图中的值适用于所有电容的一般测试,从1nF的陶瓷电容,到1000μF的电解电容。电路中,CREF的值接近于待测电容值CX。另外也可以用旋转切换的方法选择RREF,使之大于或小于22 MΩ。

  当按键开关闭合时,电容CREF与CX通过各自相应的PNP晶体管充电。当开关打开时,这些电容开始放电。CREF(假设处于良好状况)有额外的放电外接电阻。而待测电容CX则通过自己的内阻放电。如果CX的泄漏大于CREF通过RREF的泄漏,则CX电压下降得更快。于是,运放非反相输入端的电压会低于反相输入端,使运放输出为低,使红色LED发光。这只LED用于表示被测电容有泄漏。对电路的测试表明,甚至1nF的陶瓷电容都能检测。检查测试电容的额定值,确保其高于将充电的电压值,此时VSUPPLY 为-1.8V。

  LF357的最低供电电压为10V,但测试只需要6V,因此测试电容允许有一个低的上限电压。要确认电容有FET或MOSFET的输入级。

用于测试电容的电路

关键字:测试电容

编辑:神话 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/mndz/2012/0322/article_15383.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。

上一篇:SD卡中逻辑分析仪的应用
下一篇:机器视觉在光纤端面缺陷检测中的应用

关注eeworld公众号 快捷获取更多信息
关注eeworld公众号
快捷获取更多信息
关注eeworld服务号 享受更多官方福利
关注eeworld服务号
享受更多官方福利
推荐阅读
全部
测试电容

小广播

独家专题更多

东芝在线展会——芯科技智社会创未来
东芝在线展会——芯科技智社会创未来
2017东芝PCIM在线展会
2017东芝PCIM在线展会
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
汇总了TI汽车信息娱乐系统方案、优质音频解决方案、汽车娱乐系统和仪表盘参考设计相关的文档、视频等资源
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2017 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved