电磁兼容性的设计与测量方案

2011-10-15 18:42:54来源: 互联网
1、主要技术参数

  电磁干扰(Electromagnetic Interference),简称EMI,有传导干扰和辐射干扰两种。为了防止一些电子产品产生的电磁干扰影响或破坏其它电子设备的正常工作,各国政府或一些国际组织都相继提出或制定了一些对电子产品产生电磁干扰有关规章或标准,符合这些规章或标准的产品就可称为具有电磁兼容性EMC(Electromagnetic Compatibility)。电磁兼容性EMC标准不是恒定不变的,而是天天都在改变,这也是各国政府或经济组织,保护自己利益经常采取的手段。应重点考虑电路设计、隔离退耦、滤波、接地、屏蔽以及射频资源的分配等问题。举例说明,设计电路时宜选噪声高、抗干扰能力强的CMOS电路来代替TTL电路,用无解点的可视具体情况选用低通滤波器、高通滤波器或有源滤波器。利用隔离变压器或光耦合器可实现信号隔离及阻抗变换。选用电磁兼容性良好的VXI总线仪器系统来构成测试系统。

  

 

  2、电磁兼容性的测量

  

 

  

干扰分析仪电路框图

关键字:电磁  兼容性  测量方案

编辑:神话 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/mndz/2011/1015/article_12276.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
电磁
兼容性
测量方案

小广播

独家专题更多

TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved