美成功为小鼠大脑植入虚假记忆 人为可以改造记忆

2013-07-31 09:41:24来源: 科技日报 关键字:大脑  植入  虚假  记忆
    如果有一天你发现脑海中那些有趣、幸福或恐怖事,都是别人编造植入,不要惊讶,这并非天方夜谭。美国一研究团队25日宣布,他们已成功给小鼠的大脑植入虚假记忆,从实验上证实了人为改造记忆的可能性。

    植入记忆的难点有两个:首先,准确地找到只和某一个特定记忆有关的脑细胞;其次,在时间和空间上精确地激活这些细胞,从而重现这段记忆。一年前,美国麻省理工学院脑与认知科学系利根川进教授所在实验室研究人员在《自然》杂志上发表文章,介绍了他们如何通过光遗传学手段标记并激活与一个特定记忆相关的脑细胞,从而人为激活某个记忆过程。现在,该实验室利用类似的方法,给小鼠的大脑添加从未真实发生过的记忆。

    研究人员当天在《科学》杂志上报告说,他们首先将小鼠放在一个特定的环境A中,标记和环境A记忆有关的脑细胞,并使得这些细胞对光敏感。然后将小鼠放在一个完全不同的环境B中,并将激光通过光导纤维传入大脑,激活这些标记的细胞,从而唤起环境A的记忆。正当小鼠身处环境B,回忆环境A时,他们给予轻微的电击,于是小鼠错误地认为它是在环境A中受电击。当把小鼠放回环境A时,它们会因为这个虚假记忆而对环境A产生恐惧。

    简而言之,研究人员人为激活小鼠大脑中一个特定记忆,并同时给予新刺激,使两者联系在一起转化成一个新记忆,但这个记忆的内容在现实中从未真正发生,是一个虚假的记忆。

    “我们的研究从实验上证明了人为改造记忆的可能性。”研究报告共同第一作者刘旭对新华社记者说。他指出,这是第一次形成一个独立的虚假记忆。以前有过类似的研究,但无法产生一个探测得到的虚假记忆,而只是一个与真实记忆融合在一起,无法区分的混合记忆。

    这一研究对记忆的理论研究和实际应用方面都有潜在影响。理论方面,研究人员将能以前所未有的程度从细胞水平剖析记忆机理。刘旭说:“与以前将大脑当作黑箱,由外而内的研究相比,我们的方法可以说是突破性的由内而外地研究大脑和记忆的机制。”在实际应用方面,这一研究可帮助阐明人类错误和虚假记忆的机理,比如目击证人由于虚假记忆造成的错误口供等。

    “人的记忆并不像一张照片,一旦形成就不会改变,”刘旭说,“相反,我们的记忆会不断地随着我们的回忆过程而改变和扭曲。但我们很少会有意识地怀疑记忆的准确性,因为对于我们个人而言,在没有外在固定参照的情况下,我们的记忆就是唯一的事实,因此我们有可能会产生并坚持一些错误的记忆。俗话说‘好记性不如烂笔头’,说的就是这个道理。”

    刘旭说,他们下一步计划通过选择性地标记并关闭与某一个记忆有关的细胞,研究是否可弱化甚至抹除记忆。

关键字:大脑  植入  虚假  记忆

编辑:鲁迪 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/medical_electronics/2013/0731/article_3936.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。

上一篇:超级柔性电路轻胜羽毛 传感器植入人体或成现实
下一篇:让假肢"活"起来 新型传感器可同时感知湿度温度

论坛活动 E手掌握
关注eeworld公众号
快捷获取更多信息
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
大脑
植入
虚假
记忆

小广播

独家专题更多

迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
迎接创新的黄金时代 无创想,不奇迹
​TE工程师帮助将不可能变成可能,通过技术突破,使世界更加清洁、安全和美好。
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
TTI携TE传感器样片与你相见,一起传感未来
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 

About Us 关于我们 客户服务 联系方式 器件索引 网站地图 最新更新 手机版

站点相关: 医学成像 家庭消费 监护/遥测 植入式器材 临床设备 通用技术/产品 其他技术 综合资讯

北京市海淀区知春路23号集成电路设计园量子银座1305 电话:(010)82350740 邮编:100191

电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2017 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved