最新下载
用2602型数字源表对激光二极管模块和VCSEL进行高吞吐量直流生产测试
激光二极管(LD)和垂直腔面发射激光器(VCSEL)是光通信、光谱学和许多其它应用中的主要组成元件。随着这些应用需求日益增多,对基本元件的需求也在增长。这要求更注重开发准确、经济有效的生产测试策略。
软件大小:363.26 Kb星级:更新时间:2012-07-27
掌握低电压测量
进行精密、准确的电压测量技术已为人们所熟知。但是当测量分辨率必须扩展到1微伏以下时,很多方法就达不到要求了,例如工业环境下温度、压力、力等物理参数的测量就属于这种情况。
软件大小:156.24 Kb星级:更新时间:2012-05-24
用2602数字源表创建可扩缩、多引脚、多功能的IC测试系统
吉时利2600系列数字源表提供了可扩展性和灵活性相结合的堆架式测量仪器的第四种选择方案,能实现基于主机系统的高集成度和高吞吐量。2600系列扩展了其上一代产品——吉时利业界领先的2400系列数字源表的功能。2400系列数字源表适用于高速、不间断的可靠生产环境,仍然是许多测试应用的理想选择,但对于源-测量多通道系统存在局限性。此应用笔记示出了2600系列如何以数模转换器(DAC)测试为实例满足多引脚、多功能IC复杂测试的多项要求。
软件大小:342.11 Kb星级:更新时间:2012-05-24
2657A高功率数字源表-分析和测试高功率、高压电子器件
论您是从事研发、生产还是QA/FA,只有一款仪器能为您提供测试最新高功率器件和材料所需的功率、精度和速度。这款最新的2657A高压数字源表能: •源或阱高达3000V@20mA或1500V@120mA用于其它仪器不能实现的重要参数数据采集。 •提供1fA(飞安)电流测量分辨率用于下一代器件低漏电要求的测量。
软件大小:590.68 Kb星级:更新时间:2012-05-24
对大功率半导体器件的需求将推动测试测量仪器的发展
目前,各种市场趋势正在推动和牵引着最新一代测试和测量仪器的发展。电子工业由包括半导体工业在内的诸多领域组成,这些领域正致力于提高能源效率,包括提高能源产生、传输和使用的效率。从传统上讲,器件制造商通过硅技术制作各种半导体器件,用于控制马达、调节电压、转换功率,等等。鉴于大部分功率半导体器件在这些应用中用作开关或阻断装置,这意味着制造具有更低漏电流、更低导通电阻或二者兼而有之的绿色器件。
软件大小:366.76 Kb星级:更新时间:2012-05-24
用4200-SCS系统的User Test Module进行实时数据绘图
4200-SCS半导体特征化系统的Keithley 互动测试环境(KITE)软件,包含了两种测试模块:互动测试模块(ITM,Interactive TestModule)和用户测试模块(UTM,User Test Modul)。用户可以根据他们的偏爱和所要测试的类型来选择相应类型的模块。ITM提供了一种建立I-V测试的非常方便的方法,而所有要做的只是简单的鼠标移动和点击。ITM还允许进行实时数据绘图(即边测试边绘图)。另一方面,使用了UTM,用户可以用C语言和所提供的仪表库来编写测试程序。UTM被设计成在
软件大小:624.7 Kb星级:更新时间:2012-03-23
改善4200-SCS型半导体特征化系统的测试速度与总测试时间
该技术笔记为4200-SCS半导体特征化系统的用户提出一些指导与建议,以避免最常见的陷阱、达到更优的测试速度和降低总的测试时间。
软件大小:8353.98 Kb星级:更新时间:2012-03-23
保持 4200-SCS 系统的软件与数据完整性
4200-SCS 半导体特征化系统是一种高精度的测试仪,它包含了适合于半导体器件特征化的软硬件特性。该仪器是在一台PC机(个人电脑)的结构上构建的,它有一块主板,其上有主处理器、RAM、物理硬盘、CD与软盘驱动器以及其他常用的PC硬件单元。该机采用了“微软”的 Windows 操作系统。虽然这样的结构可以给用户许多好处,包括易于使用、大量的板上测试能力与数据存储空间、内建的 Windows 工具和其他实用软件,但与此同时还必须遵守在使用任何基于PC机系统时的一般性的注意事项。本文的技术笔记(Tech No
软件大小:332.24 Kb星级:更新时间:2012-03-23
用2420型源表仪测量光电池I-V特性
光电池(PV)把太阳光直接转换成电能。这些用各种不同材料和许多不同工艺技术制造的光电池,被用于地面发电以及商业、军用和科研等方面的空间能源应用。光电池的特性分析就是测量光电池的电特性,以确定其转换效率和等效电路的关键参数。这对于光电池和光伏阵列的研发和生产,是一个重要的工具。本应用笔记叙述了如何使用Keithley 2420型高电流源表来测定光电池的伏安(I-V)特性
软件大小:453.09 Kb星级:更新时间:2012-03-07
建设半导体测量的高吞吐能力开关系统
半导体特性分析实验室、技术开发实验室、建模实验室和可靠性实验室经常需要各种不同的源测量仪器,并且需要连接至多个装置。开关系统可以确保测试条件和测量具有极高的可靠性。
软件大小:612.28 Kb星级:更新时间:2012-01-18
如何使用4200-CVU 电容-电压单元测量电感
虽然吉时利4200半导体特性分析系统中的4200-CVU电容选件不能直接测量电感,但是用户可以简单地通过测量得到的参数:阻抗(Z)、相位角(或θ)和测试频率(f)提取电感值。这个应用指南介绍了用户如何通过4200半导体特性分析系统的4200-CVU选件来确定电感值。
软件大小:756.76 Kb星级:更新时间:2011-12-21
S530参数测试系统datasheet
吉时利的S530参数测试系统采用了成熟的源和测量技术,可满足工艺控制监测、工艺可靠性监测以及器件特性分析所需的全部直流和C-V测量。S530参数测试系统专门针对那些必须处理各种器件和技术的生产和实验室环境优化设计,具有业内领先的测试规划灵活性、自动测试功能、探针台集成,以及测试数据管理能力。这些测试解决方案的设计凝聚了吉时利30多年为全球范围内客户提供各种各样的标准和定制参数测试系统的宝贵经验。
软件大小:709.68 Kb星级:更新时间:2011-09-22
高功率、大电流HBLED的特性分析和测试解决方案
吉时利最新产品2651A型高功率源表(System SourceMeter®)专门为高功率电子的特性分析而优化设计,提供业内可用的最宽电流量程。该量程对于研发、可靠性及生产测试应用至关重要,例如测试高亮度LED (HBLED)、功率半导体、DC-DC转换器、电池,以及其他高功率材料、元件、模块和组件。
软件大小:615.81 Kb星级:更新时间:2011-05-05
高亮度LED的高速测试
LED测试涉及各个生产阶段不同类型的测试序列,例如设计研发过程的测试、生产过程中的晶圆级测试、封装器件的终测等等。尽管一些具体的测试“处方”通常包括用于验证产品寿命或提取某些性能特征参数的多个步骤,但是它们超出了本应用笔记的范围。本文旨在提供这些处方所需“原料”的基本信息——说明如何探测二极管特征和范例测试配置的一些基本测试。本文还简要介绍了如何利用最新的测试技术提高测试产能并降低测试成本。
软件大小:666.76 Kb星级:更新时间:2011-05-05
高性能HBLED的测试
在研发实验室中,人们正研究采用新的III-V族材料和磷(用于白光)能否使得HBLED具有更低的生产成本和更好的性能。大家重点关注的指标包括更高的效率、更多的色彩、更大的电流密度和光输出、更好的封装和更强的冷却能力。这些目标对于用于照明的HBLED器件尤其重要,为了同时实现这些目标,这种器件的特征分析就显得尤为重要。本文介绍了HBLED测试方法、程序和解决方案。
软件大小:986.62 Kb星级:更新时间:2011-05-05
推荐下载