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利用2400系列数字源表对二极管生产进行测试
为了保证制造商性能指标的一致性,在出厂前发现并清除有缺陷器件,对封装二极管进行单点通过/失败直流测试至关重要。在最后的检测过程中,大部分类型的二极管要经历至少3种主要的直流参数测试,它们是:前向电压测试(VF)、击穿电压测试(VR)以及漏电流测试(IR)。尽管这些测试的可靠性对于确保产品质量至关重要,但同样重要的是,为了保持较高的产量,这些测试必须迅速完成。
软件大小:382.46 Kb星级:更新时间:2012-01-18
分立电阻器检定测试系统的配置
分立电阻器在最后的封装状态要进行单点通过/失败测试,这对确保产品符合制造商性能指标至关重要,而且可以在出货前识别劣质电阻器以及轻微不良的电阻器。通常要对电阻器进行两项测试:电阻器电压系数测试以及电阻器公差带测试。为了确保产品质量,这些测试必须可靠,但为了保持高生产量,测试必须迅速进行。在许多分立电阻器生产测试中,还要使用分立仪器,如电源和数字万用表等。
软件大小:376.41 Kb星级:更新时间:2012-01-18
利用6517A型静电计/高阻表对惰性气体或高真空中的小型晶体进行高值电阻测量
晶体材料是现代电子和光电子技术的基础。因此,这些材料的电子特性,如(各向异性) 电导率和光电导率以及与这些特性有关的温度依存性,都是研究人员关注的问题。采用大量结晶技术的晶体生长尺寸可能不大,但往往表现出极高的电阻。这个应用笔记说明如何利用专门设计的测量室和分子束沉积(MBD)系统(在晶体或薄膜生长过程中对其进行现场测量)来测量高达1017Ω的电阻。
软件大小:933.6 Kb星级:更新时间:2011-12-21
吉时利的最新电子书:低电流、高电阻的精密测量
测试和分析金属材料、低温超导体、纳米级材料、高掺杂半导体、光电二极管暗电流和来自加速器件的电子束电流需要测量nA级及更低的电流。要么产生的电流很小,要么极低功率材料(例如单原子层石墨烯)的工作电流必须非常低才能最小化自发热效应引起的功耗和损坏。类似地,绝缘体、聚合物、陶瓷和高掺杂半导体的高电阻测量还需要测量极低电流的能力。此电子手册概述了低电流和高电阻测量的仪器和技术。下载吉时利最新电子手册。您将了解以下话题的更多内容: •测量电路 •漏电流和防护 •噪声和源电阻 •零漂移 •产生的电流 •过载保护 •交
软件大小:14693.93 K星级:更新时间:2011-10-21
小电流测量
在理想情况下,电流表对电路完全没有影响。然而,在实际测量中,可能会出现多种误差源。本文讨论了一些会造成明显的测量不确定性误差源和解决办法。
软件大小:449.39 Kb星级:更新时间:2011-09-22
低电压和低电阻精密测量
低电压和低电阻测量通常在具有较低源阻抗的器件和材料上进行。此电子手册讨论了低电压测量中几种潜在的误差源并且如何使这些误差源对测量准确度的影响最小,以及低电阻测量中潜在的误差源。吉时利新的电子手册探讨了以下低电压测量主题: •失调电压 •噪声 •共模电流&反向误差 还涉及以下低电阻测量主题: •线电阻和四线法 •热电EMF和失调补偿法 •非欧姆接触 •器件发热 •干电路测试 •测试感性器件
软件大小:4724.97 Kb星级:更新时间:2011-08-24
确保更精确的高电阻测量
高电阻测量已成为多种测试应用的组成部分,包括印制电路板的表面电阻(SIR)测试、绝缘材料和半导体的电阻率测量、高欧姆值电阻的电压系数测试等。确保高电阻测量(即高于1GΩ的电阻)的精度需要使用大量的特殊技术和仪器,例如静电计、源测量单元(SMU)、或皮可安培计/电压源组合。静电计可以采用恒压或恒流的方法测量高电阻。本文将介绍如何正确搭配测试仪器和对于确保高电阻测量应用的精度大有帮助的测量技术。
软件大小:203.8 Kb星级:更新时间:2011-02-18
《开关系统设计基础》电子手册(英文)
开关系统设计对于确保整个测试系统的准确性和测试效率至关重要。但是,大家常常对开关系统设计不够重视。为了引起重视,吉时利出版的最新电子手册涉及以下话题:•开关系统设计的基本步骤•计算不确定性•开关速度•冷开关与热开关
软件大小:3832.13 Kb星级:更新时间:2011-02-18
2502型皮安表(英文)
2502型光电二极管计是专门针对激光二极管模块(LDM)的生产测试而设计的,极大增强了吉时利LIV(光-电流-电压)测试系统的产能。这款产品是与顶尖的LDM制造商的密切合作下,针对光纤通信网络而研发的,这款双通道仪器的特点在于能够与其他系统元件轻松同步,实现对光功率测量的密切控制。2502具有高速模拟输出端口,从而在LDM制造过程的光纤校准阶段支持LIV测试系统的使用。通过使用缓冲存储器和吉时利仪器特有的Trigger Link接口,2502能够为用户提供当前激光二极管模块LIV测试的最大产能。这些仪器的
软件大小:646.58 Kb星级:更新时间:2010-03-08
低功率纳米技术及其它灵敏器件的交流与直流测量方法对比
Researchers today must measure material and device characteristics that involve very small currents and voltages. Examples include the measurement of resistance and I-V characteristics of nanowires, nanotubes, semiconductors, metals, superconductors, and
软件大小:258.05 Kb星级:更新时间:2010-02-26
采用四点共线探针和6221电流源判断电阻率和电导率类型
Resistivity and conductivity type are fundamental properties of semiconductors and are critical parameters in both materials research and wafer fabrication. A semiconductor’s resistivity depends primarily on the bulk doping, but can be modified through de
软件大小:154.63 Kb星级:更新时间:2010-02-26
低电流高电阻数字测量产品的测量及应用演示
吉时利公司的低电流/高电阻测量方案包括:皮可安培计、静电计、源测量单元(SMU)、数字源表系统和半导体参数分析仪。低电流/高电阻测量的电源解决方案包括:电流源、电压源、源测量单元(SMU)、亚飞安级远程数字源表和数字源表系统。
软件大小:未知星级:更新时间:2010-01-18
基于吉时利4200-SCS的局域网实验室用于微电子工程教育(英文)
The microelectronics laboratory has been an integral part of the modern curriculum in engineering education for years so that undergraduate students can apply what they’ve learned of their device physics and VLSI courses. In this way, they can perform mea
软件大小:477.47 Kb星级:更新时间:2010-01-15
在低功率和低压应用中实现准确、可靠的电阻测量(英文)
Low voltage measurements are often associated with resistance measurements of highly conductive semiconductor materials and devices. These tests normally involve sourcing a known current, measuring the resulting voltage, and calculating the resistance usi
软件大小:301.24 Kb星级:更新时间:2010-01-15
电缆汇总
电缆汇总
软件大小:942.63 Kb星级:更新时间:2009-12-29
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