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自动化IV测试半导体参数测试低电平测试系统开关/万用表/即插即用卡纳米测试技术与应用

特别推荐

对大功率半导体器件的需求将推动测试测量仪器发展: 目前，各种市场趋势正在推动和牵引着最新一代测试和测量仪器的发展。电子工业由包括半导体工业在内的诸多领域组成。

高功率数字源表-分析和测试高功率、高压电子器件

这款最新的2657A高压数字源表能为您提供测试最新高功率器件和材料所需的功率、精度和速度。

自动化IV测试

用2602数字源表创建可扩缩、多引脚、多功能的IC测试系统

吉时利2600系列数字源表提供了可扩展性和灵活性相结合的堆架式测量仪器的第四种选择方案，能实现基于主机系统的高集成度和高吞吐量。2600系列扩展了其上一代产品——吉时利业界领先的2400系列数字源表的功能。2400系列数字源表适用于高速、不间断的可靠生产环境，仍然是许多测试应用的理想选择，但对于源-测量多通道系统存在局限性。此应用笔记示出了2600系列如何以数模转换器（DAC）测试为实例满足多引脚、多功能IC复杂测试的多项要求。

半导体参数测试

保持4200-SCS系统的软件与数据完整性

4200-SCS 半导体特征化系统是一种高精度的测试仪，它包含了适合于半导体器件特征化的软硬件特性。该仪器是在一台PC机（个人电脑）的结构上构建的，它有一块主板，其上有主处理器、RAM、物理硬盘、CD与软盘驱动器以及其他常用的PC硬件单元。

低电平测试

掌握低电压测量

进行精密、准确的电压测量技术已为人们所熟知。但是当测量分辨率必须扩展到1微伏以下时，很多方法就达不到要求了，例如工业环境下温度、压力、力等物理参数的测量就属于这种情况。

系统开关/万用表/即插即用卡

集成式开关的应用技巧与技术

随着电子工业快速发展，厂家对产品的测试速度、精度，多路开关的路数和开关的转换速度都有更高的要求。同时厂家也面临着越来越多的挑战譬如如何在测试精度提高的情况下最大限度地降低测试成本并提高产能等等。

纳米测试技术与应用

6487型皮安表/电压源

5位半6487皮安表/电压源提高了备受赞誉6485的测量能力，并增加了500V的高分辨率源。它具有比6485更高的准确度和更快的上升时间，以及配合容性元件使用的阻尼功能。这款经济有效的仪器具有8个电流测量量程和高速自动量程功能，可以测量20fA-20mA的电流，其测量速度达到1000读数/秒，并且输出200μV-505V的电压。