参与方式:

活动时间:即日起-2019年1月5日

1、了解下方关于 NI半导体的相关知识

2、点击“我要下载”的按钮,填表单下载白皮书;

3、活动结束后的1-2周对参与者随机进行评奖并公示。

指南摘要:

采用高质量的直流测量是测试半导体芯片成功的基石。通过实施这些基本最佳实践,了解到如何提高电源管理IC,RF功率放大器和其他IC的测量精度和产品质量。

本指南中介绍的各种方法可帮助您为需要进行直流测量的应用提供更高的精度。将这些方法应用于您自己的测量系统时,请记住每种方法针对的误差类型,这样才能将正确的解决方案应用于所遇到的测量问题。例如,如果在低电平电流测量时上升时间较慢,换成三轴电缆并添加保护可能会有所帮助。 如果出现电源线噪声,可以为系统添加屏蔽,并将孔径时间设置为一个电源周期。掌握这些最佳实践可帮助您充分利用测试设备。

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