美国国家仪器亮相2016工业自动化展

2016-11-10 18:20:01来源: EEWORLD 关键字:工业测量  测试  预测性
新闻发布 - 2016年11月1日–NI(美国国家仪器公司,National  Instruments,简称NI)作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来帮助他们应对全球最严峻工程挑战的供应商近日亮相2016工业自动化展,着力展示了其面向工业物联网的大数据系统解决方案,通过融合NI领先的工业测量、资产状态监测及工厂测试等方案,为中国工业物联网的蓬勃发展提供创新、高效的解决方案。
物联网已经成为每个国家、每个行业的共同目标,不论是中国提出的“中国制造2025”、“互联网+”,美国倡导的“工业互联网”还是德国打造的“工业4.0”,都是推动产业互联发展的国家级重要战略目标。在这个工程和测量数据爆炸的时代,如果企业没有制定稳妥的数据管理战略,几年后他们将无法有效应对和管理所有的数据。而NI 面向工业物联网的平台化解决方案可帮助企业简化开发、提高效率,从而极大地缩短了上市时间,创造更大的商业价值。
NI在此次展会着重展出用于构建工业物联网大数据系统的解决方案。NI平台化解决方案能够作为模拟物联网/M2M网关,以采集、汇总和数字化模拟数据。其次,NI还推出了InsightCM Enterprise套件,提供了基础设施/云层的数据管理和传输、数据分析和系统管理软件,以便进行大数据分析和挖掘。其中,一大亮点是NI在工博会期间向大家展示了与合作伙伴共同搭建的预测性维护解决方案,以及支持时间敏感网络(TSN)的最新产品,帮助企业加快项目开发时间、提高软件开发效率、提高处理能力并增强可扩展性,同时极大地缩减总系统成本,从而获取更大的商业价值和买方价值。
在此次博览会上NI带来了下列几项产品的展示:
基于NI InsightCM + OSIsoft PI system + 中瑞泰iEM 智能平台的预测性维护解决方案
基于NI CompactRIO智能系统的自动物料分拣系统
支持TSN技术的CompactRIO智能系统
借助NI PXI平台的自动化测试平台
“设备智能化和互联化的趋势将推动处理器和FPGA、无线连接、低成本传感和软件等技术的发展。NI期望通过此次展会展现其基于这些技术打造的工业物联网平台是如何帮助企业快速搭建工业物联网系统。” NI全球技术和市场总监Rahman Jamal表示,“NI未来将一如既往地针对业内用户的需求和应用方向,为智能工业控制、机械设备故障诊断及分布式在线状态监测等应用提供智能化、便捷化的嵌入式系统设计平台和统一的应用架构,助力中国工业物联网的高速发展。”
 

关键字:工业测量  测试  预测性

编辑:王凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/gykz/article_2016111010525.html
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