英利牵头主编的多晶硅片、硅锭晶体国家标准将填补国内空白

2017-12-07 17:16:58来源: 电子产品世界 关键字:英利  多晶硅片

  12月4日,记者从英利集团了解到,该公司牵头主编的《太阳能级多晶硅片、硅锭晶体缺陷密度测定方法》国家标准顺利进入报批阶段,预计2018年发布,将填补国内多晶硅片、硅锭晶体缺陷密度测试方法的空白。下面就随电源管理小编一起来了解一下相关内容吧。

  据了解,国家标准《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》是采用酸性混合液对硅片表面进行化学抛光,再使用腐蚀液对硅片进行化学腐蚀,硅晶体缺陷被优先腐蚀并显现出来,通过对不同位置的硅锭取样片,测量得到不同部位硅片样片的晶体缺陷密度,其最终结果可以表征硅锭的晶体缺陷密度。

  近年来,英利集团大力实施标准化战略,高度重视标准化工作,已经主持制定和参与制定IEC标准、国家标准、行业标准等各类标准共计77项,主持制定和参与制定标准总数量位居光伏行业前列。

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编辑:李强 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/dygl/article_2017120727840.html
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