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DC/DC辐照损伤与VDMOS器件噪声相关性研究
2009-04-22 07:43:35 作者:王党会 许天旱 王党朝 曹衎 来源:半导体技术
关键字:
DC/DC转换器
1/f噪声
可靠性
相关性
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编辑:金海
本文引用地址:
http://www.eeworld.com.cn/dygl/2009/0422/article_1172.html
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