泛华测控参加第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议

2016-10-10 16:51:13来源: EEWORLD 关键字:自动化  仪器仪表
9月19日~21日,由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学主办的“2016第六届国际测试自动化仪器仪表学术会议”在北京召开,泛华受邀携便携式测试平台(TU-9106)及助力于智慧研究所的测试数据管理平台(Data On Demand)参加活动,并做题为《打造智慧研究所的关键技术》的演讲。

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编辑:王凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016101017654.html
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