R&S全面助力万物互连时代的IC设计应用

2016-09-30 14:41:26来源: EEWORLD
“中国集成电路设计业2016年会暨长沙集成电路产业创新发展高峰论坛”将于2016年10月12-13日在长沙-湖南国际会展中心举办。《国家集成电路产业发展推进纲要》和《中国制造2025》的出台,为我国集成电路产业实现跨越式发展注入了强大动力,本次年会以“湘江芯硅谷,成就芯梦想”为主题,深入探讨集成电路产业,特别是集成电路设计业面临的机遇和挑战;提升创新能力,增强中国集成电路产业链的综合能力,以满足市场的需求和提高国际竞争力。大会将对促进产业整合,提升核心竞争力,实现产业规模化快速发展产生深远影响。
罗德与施瓦茨公司(Rohde & Schwarz,R&S)作为全球最大的电子和无线移动通信测试设备厂商之一,将在IC年会上展示其领先的针对IoT 和通用IC设计与测试的产品和解决方案,包括IoT芯片测试技术,射频微波芯片测试技术,收发机芯片测试技术,收发机芯片产线测试方案,先进相位噪声测试技术,先进时域测试技术等方案。同时,针对频域,时域和信号域的测试,R&S公司带来了4款明星产品用于现场的演示和交流:
ZNB20          矢量网络分析仪
SMW200A        矢量信号发生器
FSVA40         信号与频谱分析仪
RTO2044        数字示波器
与此同时,R&S公司将在“IC设计与封装测试”专题论坛中,以“R&S先进IC测试方案,全面助力万物互连时代的IC设计应用”为主题,全面介绍R&S公司在IoT和通用IC设计与测试领域的产品和解决方案,特别包含可以加速IC 设计的独有方案,期待与您分享,敬请关注。
通过参观和交流,来宾将体验到R&S公司的一流产品、服务以及先进理念,领略R&S公司打造的全方位的IC测试方案平台,来共同促进IC产业的创新与发展。
诚邀您光临R&S公司展台:湖南国际会展中心 No.78

关键字:无线移动  分析仪  示波器

编辑:王凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016093017516.html
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