R&S全面助力万物互连时代的IC设计应用

2016-09-30 14:41:26来源: EEWORLD
“中国集成电路设计业2016年会暨长沙集成电路产业创新发展高峰论坛”将于2016年10月12-13日在长沙-湖南国际会展中心举办。《国家集成电路产业发展推进纲要》和《中国制造2025》的出台,为我国集成电路产业实现跨越式发展注入了强大动力,本次年会以“湘江芯硅谷,成就芯梦想”为主题,深入探讨集成电路产业,特别是集成电路设计业面临的机遇和挑战;提升创新能力,增强中国集成电路产业链的综合能力,以满足市场的需求和提高国际竞争力。大会将对促进产业整合,提升核心竞争力,实现产业规模化快速发展产生深远影响。
罗德与施瓦茨公司(Rohde & Schwarz,R&S)作为全球最大的电子和无线移动通信测试设备厂商之一,将在IC年会上展示其领先的针对IoT 和通用IC设计与测试的产品和解决方案,包括IoT芯片测试技术,射频微波芯片测试技术,收发机芯片测试技术,收发机芯片产线测试方案,先进相位噪声测试技术,先进时域测试技术等方案。同时,针对频域,时域和信号域的测试,R&S公司带来了4款明星产品用于现场的演示和交流:
ZNB20          矢量网络分析仪
SMW200A        矢量信号发生器
FSVA40         信号与频谱分析仪
RTO2044        数字示波器
与此同时,R&S公司将在“IC设计与封装测试”专题论坛中,以“R&S先进IC测试方案,全面助力万物互连时代的IC设计应用”为主题,全面介绍R&S公司在IoT和通用IC设计与测试领域的产品和解决方案,特别包含可以加速IC 设计的独有方案,期待与您分享,敬请关注。
通过参观和交流,来宾将体验到R&S公司的一流产品、服务以及先进理念,领略R&S公司打造的全方位的IC测试方案平台,来共同促进IC产业的创新与发展。
诚邀您光临R&S公司展台:湖南国际会展中心 No.78

关键字:无线移动  分析仪  示波器

编辑:王凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016093017516.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
无线移动
分析仪
示波器

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved