SAS互连阻抗及回波损耗测试

2016-09-30 08:05:32来源: ednchina
      在存储系统的SAS电缆、主板、背板的性能评估中,其TDR反射特性、频域S参数、眼图模板等是评判互连特性的基本要求。

      传统的时域参数如阻抗、时延差的测试需要基于采样示波器的TDR测试功能;而传统的频域参数如插入损耗、回波损耗、串扰等S参数的测试需要矢量网络分析仪。由于很多场合时域和频域测试都是同时需要的,所以可以采用基于矢量网络分析仪并扩展了TDR功能的一体化解决方案,如Keysight的ENA-TDR方案,其可以同时完成频域、时域和眼图的测量。测试方案如下图所示。

 

      基于矢量网络分析仪的时域反射TDR功能操作类似传统的基于采样示波器的TDR仪器,但相对于传统TDR,它有如下特点:

·       基于VNA的结构,内部很容易实现ESD保护电路,正弦波激励信号在测量时会扫过VNA 的整个测量频率范围,测量结果从输入与输出信号的矢量比中得到。因此,即使保护电路会导致部分损耗,使用矢量比也可以消除这些损耗,从而确保测量精度不受影响可以确保产品的可靠工作,但采样示波器TDR由于内部ESD保护电路会降低阶越发生器的性能,采样示波器TDR内部不使用ESD保护电路,所以非常容易因为ESD损坏。

·       ENA-TDR的用户界面经过重新设计,和传统的TDR设备使用方式类似,使现在的数字工程师可以轻松、直观地进行操作,使用户可以同时进行时域阻抗和频域S参数测量以及灵活地选择参数。它能够生成仿真眼图,在互连测试阶段不需要使用额外的码型发生器,因此可以降低拥有成本。

·       由于基于采样示波器的噪声相对网络仪来说较大,同时实现高动态范围和快速测量具有一定难度,需要通过取平均法可以降低噪声,但是这会影响测量速度。ENA-TDR 具有>100  dB 动态范围,以观察 DUT 的真实性能。可以识别极低电平信号,如差分器件的串扰和模式转换。具有极低的噪声,当IFBW 为  70  kHz 时,小于0.023  dBrms,用于精确和可重复的测量,基本可以忽略仪器自身的底噪声成分。

·       现在很多规范比如说SAS要求测试Hot TDR,也就是在上电工作状态下测试TDR,比如SATA要求测试MFTP下的阻抗,由于采样示波器TDR采用宽带接收机,在有输入信号的情况下,需要加更多的平均以反映阶约信号的反射特性,而网络仪使用窄带接收机,可以准确接受扫频信号频点,不需要加平均也可以正确接收并测量反射特性。   

关键字:SAS  互连阻抗  回波损耗

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016093017498.html
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