BCI测试直接注入法

2016-09-13 08:52:05来源: dzsc
  BCI测试法对驱动能力要求过高,而且在测试过程中与相关设备的隔离也不好,15011452-7和SAEJII1 3/3标准中规定的直接注入法的目的就是克服BCI法的这两个缺点。具体做法是将测试设备直接连接到BUT电缆上,通过一个宽带人工电源网络(Broadband Artificial Network,BAN)把RF功率注入EUT电缆,将射频能量直接耦合到被测设备中,而不干扰BUT与其传感器和负载的接口,该BAN在测试频率范围内对EUT呈现的RF阻抗可以控制。BAN在流向辅助设备的方向至少能够提供500W的阻塞阻抗。干扰信号通过一个隔直电容直接耦合到被测线上。它可以针对个别电源线或信号线进行抗扰度测试。直接注入法测试也应在屏蔽室中进行,所适用的频率范围为0.25~40OMHz(或延伸至500MHz)。直接注人法测试配置如图所示。

  图 直接注入法测试配置图

  1—RF信号产生器;2—RF放大器 3一频谱仪或功率计;4—RF取样设各;5一衰减器;6—DC阻绝电容;7一辅助件 8—BAN(地线除外);9一被测设备;1O一校正用的BF功率计;11一同轴传输线; 12一地线;13一控制设各;BAN一宽带人工电源网络

关键字:BCI测试  直接注入法

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016091317215.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
BCI测试
直接注入法

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved