USB2.0 一致性测试介绍

2016-09-05 08:07:24来源: eefocus
一、测试仪器:

      2.5GHz带宽、40GS/s采样率、最大256Mpts的可分析存储深度,X-Stream II流式结构——速度快于其它示波器10-100倍,具备最深的测量参数工具箱、函数运算工具箱,独特的TriggerScan异常捕获技术使得示波器能在单位时间内捕获更多的异常优越的瞬时响应能力,15.3英寸宽屏WXGA彩色触摸屏显示器。



二、测试夹具:


      TF-USB-B(一致性测试板,能够完成USB2.0的一致性测试功能;负载板能够完成Droop电压和Drop电压相关测试)



三、测试软件:
      QualiPHY测试软件的USB测试模板,能够完成低速率Device、全速率和高速率Host、Device、Hub的USB一致性测试,支持全部USB-IF组织制定的一致性测试规范。



四、测试项目列表


测试项目 测试指标 标准值 对应标准号 参考标准
Signal Rate
信号速率测量结果
Signal Rate
信号速率
479.76Mb/s≤x≤480.24Mb/s 7.1.11 Data Signaling Rate Universal Serial Bus Specification Revision 2.0
Eye Result
眼图模板测量结果
Eye Violations
眼图电压
x=0 7.1.2.2 High-speed Signaling Eye Patterns and Rise and Fall Time
7.1.3 Cable Skew
Consecutive Jitter 
Min
最小连续抖动
x≤100ps
Consecutive Jitter 
Max
最大连续抖动
x≤100ps
Consecutive RMS
Jitter
RMS连续抖动
x≤100ps
Paired JK Jitter Min
JK配对最小抖动
x≤100ps
Paired JK Jitter Max
JK配对最大抖动
x≤100ps
Paired JK RMS Jitter
JK配对RMS抖动
x≤100ps
Paired KJ Jitter Min
KJ配对最小抖动
x≤100ps
Paired KJ Jitter Max
KJ配对最大抖动
x≤100ps
Paired KJ RMS Jitter
KJ配对RMS抖动
x≤100ps
Rising Edge Rate
Result
边沿上升时间和速率测量结果
Rising Edge Rate Min
边沿上升最小速率
x≤1600MV/s 7.1.2.2 High-speed Signaling Eye Patterns and Rise and Fall Time Universal Serial Bus Specification Revision 2.0
Rise Time Max 
(equivalent)
最大上升时间
x≥500ps
Rising Edge Rate 
Max
边沿上升最大速率
x≤1600MV/s
Rise Time Min 
(equivalent)
最小上升时间
x≥500ps
Rising Edge Rate 
Mean
边沿上升速率测量值
x≤1600MV/s
Rise Time Mean 
(equivalent)
上升时间测量值
x≥500ps
Falling Edge Rate 
Result
边沿下降时间和速率测量结果
Falling Edge Rate 
Min
边沿下降最小速率
x≤1600MV/s 7.1.2.2 High-speed Signaling Eye Patterns and Rise and Fall Time Universal Serial Bus Specification Revision 2.0
Fall Time Max 
(equivalent)
最大下降时间
x≥500ps
Falling Edge Rate 
Max
边沿下降最大速率
x≤1600MV/s
Fall Time Min 
(equivalent)
最小下降时间
x≥500ps
Falling Edge Rate 
Mean
边沿下降速率测量值
x≤1600MV/s
Fall Time Mean 
(equivalent)
下降时间测量值
x≥500ps
Edge Rate Match
边缘速率匹配
符合模板要求
Edge Monotonicity 
Result
边沿单调测量结果
Edge Monotonicity 
Result
边沿单调测量结果
符合模板要求 7.1.2.2 High-speed Signaling Eye Patterns and Rise and Fall Time Universal Serial Bus Specification Revision 2.0
EOP Width Result
结束包位宽测量结果
EOP Width
结束包位宽
7.5bits≤x≤8.5bits 7.1.13.2.2 High-speed EOP
Device Chirp K Latency
驱动周纠K码延迟时间
2.50μs≤x≤7.00ms 7.1.7.5 Reset Signaling
Chirp K Duration
周纠K码周期时间
1.00ms≤x≤7.00ms
HS Turn On Time After Chirp
周纠后高速率开启时间
x≤500.0μs
Suspend Timing
暂停时间
3.000ms≤x≤3.125ms 7.1.7.6 Suspending
Suspend D- Volts
D-暂停电压
x≤700.0mV
Suspend D+ Volts
D+暂停电压
2.70V≤x≤3.60V
HS SOF After Resume
暂停后恢复到高速SOF
符合模板要求 7.1.7.7 Resume Universal Serial Bus Specification Revision 2.0
Resume Amplitude D-
D-恢复幅值
x≤700mV
Resume Amplitude D+
D+恢复幅值
x≤700mV
Reset Time
复位时间
3.10ms≤x≤6.00ms 7.1.7.5 Reset Signaling
Suspend to Reset Time
暂停后复位时间
2.5μs≤x≤6.0000ms
J Voltage D+
D+ J电压
360.0mV≤x≤440.0mV 7.1.1.3 High-speed (480 Mb/s) Driver Characteristics
J Voltage D-
D- J电压
 -10.0mV≤x≤10.0mV
K Voltage D+
D+ K电压
 -10.0mV≤x≤10.0mV
K Voltage D-
D- K电压
360.0mV≤x≤440.0mV
SE0 D- Voltage
D- SEO电压
 -10.0mV≤x≤10.0mV
SE0 D+ Voltage
D+ SEO电压
 -10.0mV≤x≤10.0mV
VBUS Voltage Before Enumeration
列举前的电源线VBUS反馈电压值
x≤400mV
D+ Voltage Before Enumeration
列举前的数据线D+反馈电压值
x≤400mV
D- Voltage Before Enumeration
列举前的数据线D-反馈电压值
x≤400mV
VBUS Voltage After Enumeration
列举后的电源线VBUS反馈电压值
x≤400mV
D+ Voltage After Enumeration
列举后的数据线D+反馈电压值
x≤400mV
D- Voltage After Enumeration
列举后的数据线D-反馈电压值
x≤400mV
 

关键字:USB2.0  一致性测试

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016090517053.html
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