爱德万测试宣布全新的T5830存储器测试系统

2016-08-30 14:55:19来源: EEWORLD
    全球领先的半导体测试设备供应商爱德万测试正式宣布其全新 T5830 存储器测试系统成为T5800 家族产品线中的新成员,用于全面覆盖移动电子市场 Flash 器件的各种测试需求并向用户提供最优化的测试解决方案。
 
    根据市场分析机构 VLSI Research 的调研,随着便携式电子应用的蓬勃发展,预计到2018 年 Flash 存储器测试系统的全球市场将达到 1 亿 4800 万美元。经济高效地测试非易失性存储器件需要一个多功能的,灵活的测试平台来确保用户的投资回报率,并降低设备投资风险。
 
    具有高度灵活性的 T5830 测试系统同时具备支持前道晶圆测试以及后道封装测试的能力。T5830 测试模块(TOM: Tester On Module)内置的可编程电源通道(PPS)的可扩展架构,为不同管脚数量的芯片提供了灵活经济的硬件资源分配组合。T5830 测试系统还沿用了爱德万测试创新的 Tester-per-Site 的硬件设计理念,使每个 Test site 可以独立地进行测试程序的操作,减少了并行测试的时间,降低了综合测试成本。T5830 测试系统的测试频率为400MHz,数据传输速率为 800Mbps。假设当一个 DUT 配置 4 个数字测试通道时,T5830 的并行测试能力最大可以增加到2304个DUT同测。
 
    T5830测试系统非常适合测试采用标准串行外围接口协议(SPI)的 NOR和 NAND Flash器件,以及那些管脚数较少的 Flash 器件诸如智能卡、SIM、EEPROMs、内嵌式Flash等等。
 
    爱德万测试执行总裁山田益弘先生说到:“我们最新的 T5830 存储器测试系统具备完善的自动化测试能力和优秀的可扩展性能,可以完全应对并充分满足中国大陆和台湾地区蓬勃发展的物联网与智能卡市场的测试需求。”
 
    T5830 测试系统不但具有用于大规模量产的机型,也配备了用于程序开发验证的工程机型。此外,与T5800产品家族的其它测试平台一样, T5830 使用了相同架构的硬件平台及Future Suite 测试系统软件, 增强了 T5830 测试系统的兼容性与可靠性,测试模块的可升级化也为用户未来测试需求的变更提供了可能性与灵活性。
 
    爱德万测试计划于今年的第二季度开始向全球客户供货。   

关键字:爱德万

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016083016987.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
爱德万

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved