爱德万测试推出基于V93000 平台的 Wave Scale测试板卡

2016-08-30 14:48:45来源: EEWORLD
作为全球领先的半导体测试设备供应商,爱德万测试日前在 V93000 平台上推出了 Wave Scale™ 系列测试板卡,对于无线通讯而言,可以前所未有地提高射频及混合信号集成电路测试时的并行性及产能。新款 V93000 Wave Scale RF及 V93000 Wave Scale MX 测试板卡设计可实现高并行,多芯片同测及芯片内并行测试,对于如今的射频半导体器件而言,将从根本上降低测试成本,并缩短产品进入市场的时间,同时为未来 5G 芯片的测试开辟出一条新的路径。 
 
新款测试板卡目标瞄准在了射频及无线通讯市场领域,能够为 LTE, LTEAdvanced 和 LTE-A Pro 智能手机及 LTE-M, WLAN, GPS, ZigBee, 蓝牙物联网应用等半导体芯片提供高效的测试解决方案。新的测试板卡在满足当前市场需求的同时,还突出了一些 5G 网络上可能会出现的技术变化。 
 
相比于目前市场上其他产品,基于 V93000 平台的 Wave Scale 测试板卡在架构上更为先进。传统的射频测试解决方案一直沿用多芯片同测的方式,比如四或八芯片同测,但是一次仅在芯片内对一种射频标准进行测试。Wave Scale RF 及相应的 Wave Scale MX 测试板卡能在一个射频芯片内同时对多种标准或者多个路径进行测试,通过高效的芯片内并行及高同测效率的多芯片并行,能显著地降低这些复杂射频器件的测试成本。  
 
Wave Scale RF 板卡在每块板上拥有四个独立的射频子系统并带有独立的信号激励及测量能力,能够在同一时间对 LTE, GPS, 蓝 WLAN 器件进行测试 。
 
每个子系统带有八个单独的端口,能够同时将射频信号扇出到最多四个独立的测量仪器。这能使每个射频子系统能够支持多达八个芯片运行 RX (接收器) 和 TX (发射器)的测试 ,每块板卡支持多达 32 个芯片同时测试。Wave Scale RF 板卡的 32 个射频端口都能支持最高至 6GHz 的频率。凭借 200MHz 带宽及包括提供内部回路,嵌入式校准等在内的其他各种特征,其能很好地支持包括未来 5G 半导体器件在内的一系列广泛的应用。  
 
Wave Scale MX 高速混合信号测试板卡为模拟 IQ 基带应用及高速 DAC 和 ADC 测试进行了优化,每块板卡上拥有 32 个完全独立的测试仪器,并且每个通道上带有一个额外的参数测量单元(PMU)以实现高精度的 DC 测量。其 16 位AC 激励及测量功能为专用基带通讯标准提供更加优化的测试性能。 凭借300MHz 的带宽,这块板卡能够支持最新先进的调制标准,包括对基带复合信号进行带外测量。Wave Scale MX 拥有灵活的 I/O 矩阵,每个测试通道都提供全方位的功能,降低了负载板的复杂性,同时提升了多芯片同测的能力。除了 IQ 
校准需要一块校准板外,无需专用的校准设备。
 
新一代 Wave Scale RF 及 Wave Scale MX 板卡的共同特征是带有独立硬件序列发生器,用于控制所有仪器的并行独立运行。 
 
“Wave Scale 能够使我们的客户跟上未来半导体芯片上发生的快速技术变革的脚步,”Hans-Juergen Wagner,爱德万测试 SoC 高级副总裁说到,“采用Wave Scale 可使当前和下一代芯片的测试变得更加高效,具有更好的成本优势,并能缩短产品进入市场的时间。”
 
第一批 Wave Scale 板卡已经在一家中国的半导体设计公司安装,用于测试现有 LTE Category 6 标准的芯片,同时为未来更高级的 LTE-Advanced Category 10 和 Category 16 通信集成电路开发测试协议。 
 
爱德万测试现在开始接收 Wave Scale RF 和 Wave Scale MX 测试板卡的订单,预计于今年第三季度开始批量出货。

关键字:爱德万

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016083016986.html
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