常用的天线测量技术

2016-08-22 14:39:13来源: eefocus
1.远场测量技术

在测量时,计算机控制测试转台转动,并自动采集各个对应角度的接收信号
的数据(包括幅度、相位),经数据处理,得到天线的各个特性参数(如方向图、
副瓣电平、零点位置、半功率波瓣宽度等)。

2.近场扫描测量技术

是用一个特性已知的探头,抽测天线近区某一表面上场的幅、相分布,通过严格的数学变换式可以确定天线的远场特性。根据测量时扫描面的不同,将近场扫描测量技术分为平面扫描近场测量技术,柱面或球面扫描近
场测量技术。
2.1. 平面扫描近场测量技术(平面近场测量)
被测天线不动,X-Y 扫描架带动测试探头,测量被测天线在近区平面内的电磁
场分布(包括幅度、相位),经平面近远场变换,得到天线远场的特性。
2.2. 柱面扫描近场测量技术(柱面近场测量)
被测天线转动,加上探头沿Y 向步进移动,测量被测天线近区柱面上的电磁
场分布(包括幅度、相位),经柱面近远场变换,得到天线的远场特性。
2.3. 球面扫描近场测量技术(球面近场测量)
测试时,测试探头不动,使被测天线沿俯仰轴和方位轴转动来测试被测天线
近区球面上的电磁场分布,经球面近远场变换,得到天线的远场特性。

关键字:天线测量技术  远场测量技术

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016082216866.html
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