基于33CX201的可控硅快速测试仪电路图

2016-08-06 14:11:01来源: elecfans 关键字:33CX201  可控硅  快速测试仪
如图所示可控硅快速测试电路,主要由555组成。该测试仪由脉冲信号发生器、闭合导通环路、发光二极管、可控硅SCR等组成。插上可控硅SCR,当按下按钮AN后,在555输出高电平时,发光二极管LED1、电阻R4、可控硅SCR、晶体管BG2形成闭合回路,发光管LED1发光;当555输出低电平时,LED2、R4、SCR、BG1形成闭合回路,发光管LED2发光,说明可控硅是好的。在测试时插上可控硅SCR后,发光管LED1、LED2应不亮,否则说明T1、T2的两极已短接。多谐振荡器,其振荡频率为f=1.44/(R1+2R2)C。图示参数对应的振荡频率约为1Hz。由于R1<充电所对应的时间t充=0.693(R1+R2)C,与电容C放电所对应的时间t放=0.693R2C十分接近,所以脉冲发生器输出脉冲占空比接近1:1。

关键字:33CX201  可控硅  快速测试仪

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016080616593.html
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