NI将半导体ATE数字功能引入PXI平台

2016-08-05 10:07:56来源: EEWORLD 关键字:NI  半导体  ATE  数字功能  PXI平台
2016年8月2日,NIWeek - NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI) 作为致力于帮助工程师和科学家应对全球最严峻的工程挑战的平台系统供应商,今日宣布推出了NI PXle-6570基于图形向量的数字通道板卡和NI数字图形向量编辑器。 该产品将射频集成电路电源管理IC、微机电(MEMS)系统设备以及混合信号IC的制造商从传统半导体自动化测试设备(ATE)的封闭式架构中解放出来。
 
传统ATE的测试覆盖率通常无法满足最新半导体设备的要求。通过将半导体行业成熟的数字测试模式引入到基于PXI开放平台的半导体测试系统(STS)中,并使用功能强大且人性化的编辑器和调试器进行优化,用户可以利用先进的PXI仪器来降低射频和模拟IC的测试成本并提高吞吐量。
 
“PXI数字模式仪器为半导体工程师提供所有高端数字测试平台才具备的数字性能,因此它的问世无疑是为STS锦上添花,” NI半导体测试副总裁Ron Wolfe表示, “如果生产车间的PXI具备这个功能,他们就可以在满足先进器件的成本和测试要求的同时,轻松将其扩展到其他产品的测试上。”
 
NI PXIe-6570数字模式仪器以非常实惠的价格为无线设备供应链和物联网设备常用IC提供了所需的测试功能。它具有100 MVector/秒的图形向量执行速率,在单个子系统中具有独立的源、捕获引擎、电压/电流参数函数以及高达256个同步数字引脚。 用户可充分利用PXI的开放性和STS,根据需求任意地增加或减少所需的器件,以满足测试配置所需的器件引脚和测试点数。
 
全新的数字模式编辑器软件具有以下功能:器件引脚映射图、规范和图形向量编辑环境,有助于更快速地制定测试计划;各种内置工具,如多站点和多仪器并行收发可实现产品从开发到投产的无缝对接;shmoo图和交互式引脚视图等工具,可更高效地调试和优化测试。
 
使用相同PXI硬件、TestStand、LabVIEW和数字模式编辑器软件进行特性分析和产品测试,可减少数据关联所需的工作,从而缩短产品上市时间。 STS配置内外的PXI硬件占地空间小,可节省厂房空间,而且可使用特性分析实验室台上的标准墙插式电源供电。 
 
“PXI已被证明是一个出色的软硬件集成解决方案,可同时适用于产线车间和特性分析实验室,”Wolfe补充道,“NI基于图形向量的数字通道板卡和数字图形向量编辑器是重要的创新产品,可帮助器件制造商和测试室降低测试成本以及优化测试程序开发。”
 
许多半导体公司正基于NI平台和生态系统来构建智能化的测试系统。 不仅仅是生产适用的STS系列、1 GHz带宽矢量信号收发仪,fA级源测量单元以及TestStand半导体模块, 这些系统受益于覆盖了直流到毫米波的600多款PXI产品。 它们采用PCI Express第三代总线接口,具有高吞吐量数据传输能力,同时具有子纳秒级同步以及集成的定时和触发。 用户可以利用LabVIEW和TestStand软件环境的高效生产力,以及一个由合作伙伴、附加IP、应用工程师团队组成的活跃生态系统,大幅降低测试成本,缩短上市时间,开发面向未来的测试设备,满足未来RF和混合信号测试的各种挑战。

关键字:NI  半导体  ATE  数字功能  PXI平台

编辑:杜红卫 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016080516553.html
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