TD商务终端的路测与优化测试

2016-07-26 11:36:24来源: mwrf
在中国移动集团公司每年组织的TD-SCDMA(以下简称TD)网络自动路测考核中,各省会城市、部分地级市都取得了不俗的成绩,表明TD网络已实现较好的连续覆盖。但是,对于广大的用户来说,TD终端在使用过程中总会遇到这样那样的问题影响使用感知。

总结分析,影响用户使用感知的原因可归结为三类:第一是终端不成熟,TD芯片的发展历程相比其他标准要短很多,在终端成熟度上整体滞后;第二是运营商指标考核压力,迫使TD厂家过分关注道路网络质量,过度关注网管指标,而对真正产生用户需求的区域反而不能实现深度、连续覆盖,影响了用户的使用感知;第三是测试终端与商务终端有较大差异,导致了运营商按照测试终端规划的连续覆盖的TD网络,在用户使用过程中却出现了不连续、弱覆盖等问题。本文重点针对测试终端与商务终端的接收电平差异来阐述基于商用终端的测试与优化。

商务终端与测试终端的差异

通过大量的道路及实地测试以及对用户的投诉分析,太原移动网优工程师发现了在通话过程中主流的TD商务终端(三星I9108)比TD测试终端(大唐8130)的接收电平低10到14dBm。这个现象导致了前期规划的TD连续覆盖网络,在用户实际通话中出现了覆盖弱、电平差、通话质量差、甚至掉话的情况。

而且在解决用户投诉的过程中,优化工程师一般也是通过测试终端进行实地测试,在连续通话过程中,商务终端还存在接收电平陡降的情况。在这样的情况下,使用测试终端做的网络规划和优化在用户实际使用过程中,必然会出现弱覆盖、覆盖不连续、互操作频繁的问题。测试终端测试的网络结果并不能代表用户的真实情况,进而导致了优化工程师认为覆盖已解决、但是用户不认可的情况。

基于TD商务终端的优化分析

近期通过大量的道路测试,TD网优人员陆续发现了商务终端弱覆盖的多处问题。其中发现的一个典型弱覆盖区域是迎泽大桥桥东,该区域是个比较空旷的区域,包括迎泽桥北匝道、南匝道和迎泽桥面,区域较大,桥面及匝道无线环境复杂,商务终端弱覆盖问题很严重。

经过详尽测试及优化分析,网优人员通过两种途径来解决该问题,如图1所示。

一是在现有珠琳公园站点增加一个小区加强迎泽大桥桥东、迎泽大桥北匝道的覆盖;二是新增加的珠琳公园3小区与1小区合并,合并后由两个天馈系统覆盖,既保证了信号覆盖,又减少了小区边缘弱场的切换。

图1 商务终端在滨河东路及迎泽大桥存在弱覆盖

图1中珠琳公园基站之前有2个小区(绿色条状代表其方位角),主要覆盖滨河东路路面,新增小区(红色条状)主要覆盖迎泽大桥桥东路段。

优化方案实施效果

覆盖效果对比

 

对比整改前后DT测试覆盖情况,从图2、图3中可以看出-115?-75dBm区间(测试图示中的蓝色样本点)的弱覆盖点已明显减少,优化调整后迎泽大桥北匝道及桥面的覆盖基本保持在大于-75dBm的区间,相比之前得到明显改善,从实际路测情况来看,商务终端(三星I9108)在路面的低电平比例明显减少。

对比珠琳公园基站在优化前后的弱场起呼情况,可以发现弱场起呼(即起呼电平小于-80dBm)次数明显减少,优化前平均为5203次,优化后平均为3995次,每天减少约1200次。

各项KPI指标对比

从小区业务接入性能指标分析,优化后该小区CS/PS接通率得到了一定改善,约提升0.3个百分点。另外小区业务保持性能指标中,CS掉话率从之前的0.78%改善到0.65%,PS掉话率从之前的0.67%改善到0.60%。

切换指标对比

珠琳公园小区覆盖的是快速移动场景,无论在滨河东路或迎泽大桥上的用户多数是移动速度较快的用户,所以切换指标对用户的使用感知有很大的关联。优化调整后,尤其是新增的小区与原珠琳公园1小区合并后,切换性能得到明显的提升,系统内切换成功率从91.4%提升到99.7,提升约7个百分点,效果非常明显。

终端测试与优化关键

从测试终端与商用终端在接收电平的较大差异来看,前期使用测试终端规划的TD网络需要重新使用商务终端进行覆盖评估。

从用户的投诉分析来看,目前TD网络的主要问题还是连续覆盖与深度覆盖不足,后期的网络规划、优化要使用商务终端,从用户的实际使用感受出发。

在本文中,用户使用商务终端发现弱覆盖区域后,网优人员通过增加小区加强覆盖与合并小区减少切换两个优化手段解决。从实际道路测试来看,商务终端在迎泽桥面及北匝道弱覆盖问题基本得到解决;从统计指标分析,各项KPI指标均有改善,特别是TD系统内接力切换成功率得到明显提升。

由此来看,TD网络的覆盖评估需要以商务终端为准,在本优化案例中,大桥及匝道等快速移动场景可以通过增加扇区使小区整体覆盖范围和覆盖强度得到加强,同时,可以考虑进行扇区合并减少TD系统内切换次数,降低弱场下切换失败导致掉话的风险。

关键字:TD商务终端  路测  优化测试

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016072616353.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
TD商务终端
路测
优化测试

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved