利用3550数字无线电综合测试仪检测无线电发射设备

2016-07-15 11:03:07来源: eefocus
3550数字无线电综合测试仪是美国艾法斯有限公司推出的一款手持式综合测试仪,对传统的模拟通信系统和DMR,PDMR、P25、NXDN以及dPMR等数字系统的外场测试非常便利。

无线电设备检测是无线电管理部门一项重要工作,有些无线电发射设备架设在高楼、高山上,一般的综合测试仪较笨重,难以开展测试工作。无线电管理部门对无线电发射设备比较关注的参数有频率误差、发射功率、占用带宽、杂散发射等,利用3550数字无线电综合测试仪就能满足对以上参数的测试。下面介绍下详细的测试方法及操作:

测试附件准备

1、射频测试线缆。用于连接综合测试仪和发射机。
2、射频转接头,3550射频接口为TNC阴头。根据射频线缆接头、对讲机射频接口类型配备相应的射频转接头。
3、音频测试线缆。音频测试线缆可以根据被测试对讲机的耳机改造而成。
4、衰减器。3550综合测试仪T\R接口直接输入最大信号为20W,ANT接口直接最大输入信号为10dBm,SWR接口为10dBm。使用前大致判断下发射机的发射功率,选用合适的衰减器,以免损坏仪器。
5、带阻滤波器。滤除主信号,主要用于杂散测试。

测试步骤

一、设备连接

将对讲机的天线接口和3550综合测试仪的T\R接口用射频线缆连接;将对讲机的音频输入接口和3550综合测试仪的AUDIO OUT接口连接。

图1:测试连接图

说明:黑色为射频线缆,蓝色为音频线缆,箭头方向是信号的走向。

二、测试内容

1、频率误差

第一步,接收机设置。在“接收机”菜单下打开“接收机”,输入发射机的当前发射信道频率419.250MHz。

第二步,打开解调。在“接收机”菜单下打开“模拟解调”,按住发射机的PTT按钮,就可以在屏幕上读出频率误差值,如图2所示,频率误差即射频频差为-0.681kHz。

图2:接收机及模拟解调界面

2、发射功率

设置与频率误差测试相同,按住发射机的PTT按钮,就可以在模拟解调界面上读出射频功率,如图2所示,射频功率即宽带功率为35.0548dBm。

3、占用带宽

第一步,音频配置。在“系统”菜单下选择“音频配置”,将音频的接口配置为Fgen和路径配置改成如图3所示。

图3:音频配置

第二步,音频输出。在“发生器”菜单下打开“音频发生器”,如图4所示,设置音频信号频率为1kHz,启用音频发生器,调节音频源的输出电平,使3550测试仪频偏仪显示3kHz频偏。然后将音频电平提高10dB。

图4:音频发生器设置

第三步,测量带宽。在“选件”菜单下打开“信道分析仪”,设置中心频率为发射机的工作频率,打开最大值保持及标记功能,利用ITU-R建议SM.443采用26dB处测量带宽的方法,作为对带宽的估计。标记1与标记2的电平差值约为26dB,频率差为4.313kHz,即占用带宽为2倍频率差约8.626kHz,如图5所示。

图5:带宽测量

4、杂散发射

发射机一般会在载频二次或三次谐波处出现比较大的杂散发射, 利用3550综合测试仪测量二次或三次谐波电平值。由于3550综合测试仪频段到1000MHz,对于VHF频段发射机可以测到三次谐波,对于UHF频段发射机只能测到二次谐波。

第一步,加装带阻滤波器。在对讲机的天线接口和3550综合测试仪的T\R接口之间加装带阻滤波器,其作用是滤除主信号。
第二步, 接收机设置。在“接收机”菜单下打开“接收机”,频率设置为发射机工作频率的2倍。
第三步,杂散测试。在“接收机”菜单下打开“模拟解调”,按住发射机的PTT按钮,就可以在屏幕上读出相关参数的值,如图6所示,窄带功率即杂散发射值为 -22.87dBm。
第四步,加音频再次测试。在“发生器”菜单下打开“音频发生器”,设置音频信号频率为1kHz,启用音频发生器,调节音频源的输出电平,使3550测试仪频偏仪显示3kHz频偏,在模拟解调界面上读出杂散发射值。
第五步,取第三步和第四步中最大值,即为杂散发射值。

图6:杂散测试

5、调制限制

第一步,音频输出。在“发生器”菜单下打开“音频发生器”,设置音频信号频率为1kHz,启用音频发生器,调节音频源的输出电平,使3550测试仪频偏仪显示3kHz频偏。然后将音频电平提高10dB。
第二步,调制限制测试。在“接收机”菜单下打开“模拟解调”,就可以在屏幕上读出相关参数的值,如图7所示,调制即调制限制为 4.822kHz。
第三步,变动音频频率再次测试。保持第一步中的音频电平值,使音频频率从300Hz变化到3kHz,在模拟解调界面上读出调制值。
第四步,在第二步和第三步中选出最大值即为最大频偏。

图7:调制限制

关键字:数字无线电  综合测试仪  发射设备

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016071516212.html
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