数字中频和模拟中频频谱仪的指标分析

2016-07-13 14:03:43来源: eefocus
     采用全数字中频频谱仪模拟中频频谱仪比较,若干关键指标都得到较大幅度提升,同时稳定性,可生产性也得到较大幅度的提升。以DSA1030A作为数字中频代表与市面上模拟中频频谱仪做比较来说明数字中频技术的优越性。
 
    1.采用全数字中频技术可以测量更小的信号:通过实现更小带宽的中频滤波器,大幅度降低了显示平均噪声电平。DSA1030A实现了最小10Hz的RBW,而要实现这么小带宽的模拟滤波器技术上是很困难的。当设置更小的RBW时,频谱仪的本底噪声也将相应降低(VBW都选择10Hz,同时扫描时间都选择自动),降低大小可以用公式(1)说明。如果RBW从10kHz修改成1kHz,则底噪将下降10dB。DSA1030A在内部标配的前置放大器打开之后,选择10Hz的RBW,可以测量达-148dBm的信号。
 
 
    其中:ΔdB—低噪的变化量,单位为dB;BW1—修改前的分辨率带宽值,单位为Hz;BW2—修改后的分辨率带宽值,单位为Hz。
 
    2.采用全数字中频技术可以分辨更近的信号:通过实现更小带宽的中频滤波器,可以分辨频率相差只有10Hz的两个信号。最小分辨率带宽是用来说明频谱仪能分辨两个幅度相当而频率相差很小信号能力的指标。越小的分辨率带宽就可以分辨距离越近的信号。例如输入一个两个频率相差150Hz的双音信号,使用30Hz的RBW可以轻易分辨,而3kHz的RBW则不能办到。分辨率带宽是指中频滤波器下降3dB处的带宽。
 
    此外,数字滤波器的形状因子可以做得更小,从而以前被掩埋在大信号裙带下的小信号采用更好选择性的数字滤波器之后得以凸现。选择性是60dB带宽与3dB带宽的比值。DSA1030A的中频滤波器选择性为5,远远优于模拟滤波器的15。采用数字滤波器的DSA1030A更容易分辨两个相距9kHz,幅度相差30dB的信号。
 
    3.采用全数字中频技术可以获得更高精度的幅度指标:几乎消除了传统模拟中频由于中频滤波器切换误差,参考电平不确定度,刻度失真,幅度对数线性切换误差等诸多因素造成的幅度误差,从而得到更高的全幅度精度。模拟中频频谱仪中修改参考电平是通过调节模拟中频放大器实现的,刻度保真度也受限于充当包络检波的对数放大器,此外,中频滤波器的切换是通过选择不同模拟滤波器实现的。由于模拟器件受环境温度等影响,会导致各个环节都带来幅度误差。然而,数字中频就大大减弱和消除了这些误差影响。DSA1030A的全幅度误差小于1dB。
 
    4.采用全数字中频可以获得更宽的动态范围和显示范围:数字中频频谱仪将中频信号转换成数字信号后,动态范围决定于数字定点处理过程中的字长,只要充足的处理资源就可以得到很高的动态范围。而模拟中频受对数放大器等器件的动态范围制约。因此,模拟中频的频谱仪通常只显示80dB的范围内的信号,而数字中频频谱仪可以得到大的多的测量范围和显示范围。DSA1030A可以设置200dB的显示范围,而相同设置下测量范围达到130dB。
 
    5.采用全数字中频技术可以得到更稳定的表现:与传统模拟中频相比,大大降低了模拟器件的使用,降低了硬件系统复杂度,同时也降低了由于通道老化和温度敏感以及器件失效等造成的系统不稳定度。系统越复杂,越不稳定。做硬件设计的都知道,越简单的单板一定越稳定,因为,器件减少,必然降低了出错的概率,系统稳定性依赖于每个器件的稳定性。而使用数字中频,复杂的器件组合编程固化在芯片中的代码,经过反复测试调试,程序可以按照设计的程式工作,而不用担心其中一段代码突然工作不正常。
 
    6.采用全数字中频技术可以获得更快的测量速度:数字中频滤波器技术的采用,大大提高了滤波器的带宽精度和选择性,减小了响应时间,从而大大降低了扫描时间,提高了测量速度(见式2)。
 
 
    (2)其中:Span—当前测量设置的扫宽,单位Hz;RBW—当前设置的分辨率带宽,单位Hz;VBW—当前设置的视频带宽,单位Hz;KRBW—当前RBW的瞬态响应时间的比例系数;KVBW—当前VBW的瞬态响应时间的比例系数;
 
    RBW的瞬态响应时间的比例系数与频谱仪的中频滤波器的实现有关,模拟中频的频谱仪,由于响应迟钝的晶体和LC型滤波器,比例系数K一般为3左右。而像DSA1030A一样采用数字中频方案的数字滤波器可以得到更小的比例系数K,DSA1030A的比例系数达到1,如图9所示。例如,同样将频谱仪扫宽设置成10MHz,RBW设置成1kHz,VBW大于1kHz,此时DSA1030A对应的K值为1,扫描时间为10s;而模拟中频中K值如果为3,则需要30s。

关键字:数字中频  模拟中频  频谱仪  指标分析

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016071316169.html
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