耐压测试仪试验中除零误区

2016-07-07 14:53:48来源: eefocus
耐压测试仪提供了一种电流除零的功能,通常叫做OFFSET功能。其具体的方法是,首先在不接被测样品的情况下做耐压测试,此时的漏电流包括耐压仪本身和测试夹具所引入的漏电流。此电流被置零,在随后的测试中,显示的漏电流将是实际漏电流减去置零电流。下面的例子将揭示一些可能被忽略的问题。

一个1μF的电容,则在1500V下,其漏电流为0.471mA;一个纯阻性的3MΩ的负载在1500V的电压下将有0.500mA的漏电流。当两者并联时,在1500V电压下将产生0.687mA的漏电流。通常,耐压测试仪本身和测试夹具引入的漏电流往往具有容性成分。假设耐压测试仪的零电流为相当于一个1?F的电容,在测试个纯阻性的3MΩ的负载时,由于采用了直接除零的方法,得到的结果是0.687mA-0.471mA=0.216mA然而此时流过负载的实际电流却有0.500mA,这正是耐压测试仪简单除零的结果,这种方法没有考虑到不同负载的电流具有不同的相位

解决上述问题的方法是采用如下的耐压测试仪,采用回路低端浮地,而将接地点移动到电流表之后,可以使耐压仪的电流读数不包括仪器本身的漏电流。在使用这种方法时,还应该注意样品的低端不可以接地。

电子、电气产品安规测试的重要性日益突出,其中耐压测试仪的发展十分迅速。随着耐压测试仪制造技术的发展,新型的耐压测试仪不断涌现,其工作原理和使用方法也与传统仪器不同。了解其工作原理,正确的使用耐压测试仪,是每个安规测试工程师必须掌握的。

关键字:耐压测试仪  除零误区

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016070716077.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
耐压测试仪
除零误区

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved