是德科技2016测试测量大会完美亮相深圳

2016-06-16 17:56:09来源: EEWORLD
2016年6月2日是德科技年度盛会——是德科技测试测量大会(Keysight Measurement Forum, KMF)在深圳威斯汀酒店惊艳亮相。为期一天的大会吸引了近300位与会者参会。
 
是德科技KMF会议现场
 
随着大数据时代的来临,无数的热议、想象和憧憬不断涌现。此次是德科技测试测量大会议题紧贴大数据时代热点,涵盖了智能硬件、网络设备、云计算、器件和半导体等领域。其中具体如智能手机中采用的载波聚合、VoLTE 和 Type-C 等最新的技术;VR/AR、智能家居在内的新型硬件中的关键测试项目;第五代移动通信 5G 在挖掘频谱效率、提高吞吐量和提高流量密度等方面的研发和测试以及应对数据中心和网络中心的高速数字接口、光通信、调制解调等方面都面临着难题和挑战。现场的应用专家为工程师深入剖析设计难题并提供应对测试挑战的解决方案。是德科技在此次展示的先进测试测量解决方案中,充分发挥了台式及模块化仪表优势,并结合软件的强大力量,为用户提供了覆盖从研发、测试到生产的整个产品周期的解决方案,为客户提供了极大的便利性。
 
是德科技测试测量解决方案展示
 
除了精彩的议题及解决方案展示,此次是德科技测试测量大会更是丰富了到场客户的参会体验。精彩的VR体验区域让参会者尽情体验科技的魅力和身临其境的震撼;短小的在线游戏融合了产品及娱乐需求,极大活跃了现场气氛;今年与ARM加速器—安创空间合作,特设的创客空间更是展示了由创客开发的富有开拓性思维的产品,为大家提供了交流的平台和资源。
 
KMF互动游戏区
 
KMF创客空间
 
是德科技大中华区市场总经理郑纪峰表示:“科技永远在不断推动改变当今的生活,是德科技会始终致力于领先一步,为客户提供先进、前沿技术的测试测量解决方案,缩短客户产品的研发及上市时间,用精湛的测量技术保障客户产品的测试需求。” 

关键字:是德科技  2016测试测量大会

编辑:杜红卫 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016061615889.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
论坛活动 E手掌握
微信扫一扫加关注
论坛活动 E手掌握
芯片资讯 锐利解读
微信扫一扫加关注
芯片资讯 锐利解读
推荐阅读
全部
是德科技
2016测试测量大会

小广播

独家专题更多

富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
富士通铁电随机存储器FRAM主题展馆
馆内包含了 纵览FRAM、独立FRAM存储器专区、FRAM内置LSI专区三大部分内容。 
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
走,跟Molex一起去看《中国电子消费品趋势》!
 
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
带你走进LED王国——Microchip LED应用专题
 
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2016 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved