带电粒子的测量与探测器的基本类型

2016-04-07 08:58:49来源: eefocus 关键字:带电粒子  探测器  基本类型
ORTEC带电粒子探测器主要有金硅面垒和离子注入两种工艺,耗尽层厚度从10微米到几个毫米厚不等。而根据其几何形状与是否全耗尽又分为诸多类型。
选择合适的带电粒子探测器,除应用本身外,应综合权衡耗尽层厚度、结电容、漏电流、电子噪声、能量分辨率等性能指标。
 
Alpha能谱测量
 
用于alpha能谱测量的ULTRA和ULTRA-AS探测器采用了表面钝化和离子注入工艺(即PIPS探测器),这两个系列的探测器有诸多优点:
 
接触极更薄,更坚固;
低噪声,对Alpha能谱分辨率好;
使用边缘钝化技术,可以使样品离探测器入射窗小到1毫米(一般面垒型探测器最小只能达到2.5毫米),探测器效率更高
常温使用
探测器窗可擦拭
Ultra-AS和Ultra的区别或改进是采用了低本底材料,以专适于在ORTEC Alpha Suite谱仪。
 
ULTRA-CAM系列则是针对气溶胶连续监测设计,探测器具有特殊密闭和抗潮性能。
 
Beta能谱测量
 
Beta能谱测量的难处在于常温状态下,硅探测器很难获得良好的分辨率,ORTEC提供以下两种解决方案:
 
Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);
A和L系列可制冷的厚硅探测器。
带电粒子探测器的选择
 
带电粒子探测器在核物理实验中诸多方面的应用,ORTEC在其探测器类型上都有相应的侧重:
 
比如重离子由于其高度电离和短径迹特性,需要探测器在前接触级具有强电场,适用的F系列探测器在前接触级的场强为20,000V/cm。
而对带电粒子的时间谱测量,需要用ULTRA系列或能承受超电压的强电场局部耗尽探测器。

关键字:带电粒子  探测器  基本类型

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016040715037.html
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