NI亮相2016Semicon中国半导体展,推出增强版半导体测试管理软件

2016-03-16 17:06:46来源: EEWORLD
新闻发布 - 2016年3月15日- NI (美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商,今日亮相2016 Semicon中国半导体展,并宣布推出TestStand半导体模块,为测试系统工程师提供了所需的软件工具来快速开发、部署和维护半导体测试系统。
借助TestStand半导体模块,工程师可以采用与在生产车间部署半导体测试系统(STS) 一样的编程方法在实验室进行特性分析,从而减少了关联测量数据所需的时间。 TestStand半导体模块基于 TestStand这一已经被全球超过1万名开发工程师所采用的业界标准测试管理软件,可帮助用户使用PXI和TestStand的功能自行搭建半导体测试所需的机架式系统,而不需要采用STS传统的“测试头”架构。
“NI致力于通过开放式软件和模块化硬件不断降低半导体测试的成本,” NI半导体测试副总裁Ron Wolfe表示, “我们在2014年推出STS,使得业界标准的开放式PXI平台具有了专门针对半导体测试的功能。今天,我们专门针对半导体测试的特性分析以及生产等各个阶段的需求开发了TestStand半导体模块,提高了测试开发的效率。”
TestStand半导体模块提供了专门针对半导体测试的功能,可降低开发成本和提高生产吞吐量。 功能包括:
动态多站点编程,可将代码复用于多个站点上(数量可调)
直观的引脚图编辑器,包括PXI和第三方仪器
标准测试数据格式(STDF)结果处理器,使用业界标准的格式记录参数测试结果
TestStand半导体模块进一步补充了NI日益壮大的半导体测试产品家族,半导体测试产品已经包含了STS、数百个高性能PXI仪器以及TestStand和LabVIEW系统设计软件等各种功能强大的软件。 NI智能化的平台方法正在帮助半导体制造商降低RF和混合信号的测试成本,提高测试的吞吐量。
除了以上新品, NI 在2016 Semicon还展示了包括基于NI平台的蓝牙自动化测试系统、NI半导体测试系统、第三代PXI控制器/机箱和最新电源模块、高速串行协议测试、ADC自动化测试系统等演示系统,欢迎大家光临美国国家仪器位于上海新国际博览中心N5的5443号展位。
 

关键字:模块  测试  混合

编辑:王凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016031614814.html
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