中国赛宝实验室采用是德科技低频噪声测量进行可靠性分析

2016-02-02 18:43:20来源: EEWORLD
先进测量系统能够简化闪变噪声和随机电报噪声的测量与分析
 
新闻摘要:
 
低系统噪声使其可以精确测量半导体器件
支持赛宝实验室进行广泛的器件与应用研究
 
是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布,中国赛宝实验室在其半导体器件(包括 MOSFET、HEMT 和 TFT等)可靠性研究中成功采用 Keysight EEsof EDA E4727A 先进低频噪声分析仪(A-LFNA)实施闪变噪声(1/f 噪声)和随机电报噪声(RTN)的测量与分析。
 
Keysight EDA E4727A是一款高性能的噪声分析仪,可执行快速、精确和可重复的低频噪声(LFN)测量。它支持闪变噪声和随机电报噪声的晶圆映射测量和数据分析,并提供可重复和可靠的测量结果,因此特别适合用于半导体材料和集成电路制程的开发、检验和监测。
 
赛宝实验室又称中国电子产品可靠性与环境试验研究所,是中国首屈一指的、致力于电子产品质量和可靠性研究的科研机构。作为直接隶属于中国工业和信息化部(MIIT)的机构,赛宝实验室每年为工信部和地方政府的行业管理,以及上万家电子信息企业提供技术支持和服务。 
 
赛宝实验室高级工程师刘远博士表示:“我们经过细致的技术评估后才选择了是德科技的 E4727A 解决方案。其卓越的性能确保了低系统噪声下的精确测量,并且拥有业界最宽的频率和偏压测量范围,支持我们各类器件与应用的研究。我们期待与是德科技在校准方法和标准化方面的进一步合作。”
 
Keysight EEsof EDA 器件建模产品经理马龙博士表示:“我们很高兴赛宝实验室成为我们低频噪声测量系统在全球的一个新的示范点。低频噪声是半导体材料和制程中一个非常敏感和重要的指标,在可靠性、新材料和新型器件的研究中广泛使用。是德科技致力于通过增强与包括赛宝实验室在内的全球顶尖研究机构以及高校的合作,为相关的研究工作提供大力支持。”

关键字:是德科技

编辑:冀凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_2016020214516.html
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