上海微技术工研院牵手NI引领射频及微波芯片测试技术研发

2016-01-21 16:38:07来源: EEWORLD 关键字:半导体  射频  测试
2016年1月18日,中国上海,上海微技术工业研究院(SITRI)作为致力于“超越摩尔”半导体技术物联网应用研发和产业化的协同创新中心,宣布与美国国家仪器公司(National Instruments ,简称NI)签署合作,联合成立“射频及微波芯片(RFIC/MMIC)测试技术联合实验室”,通过与在该领域测试技术拥有深厚积淀的NI合作,进一步提升上海微技术工研院的研发能力,引领我国RFIC/MMIC 测试技术迈向国际化水平。

双方联合成立的“RFIC/MMIC测试技术联合实验室”将专注于射频及微波芯片测试技术的研究和开发,进一步推动该领域的集成测试与研发工作,包括物联网通信领域的高性能、高集成度射频前端通信产品研发,微波毫米波汽车雷达前端芯片的设计开发。同时,双方将在科学研究、技术创新、人才培养等诸多方面展开紧密合作。根据合作协议,上海微技术工业研究院将负责联合实验室的建设管理工作。
 
上海微技术工研院一直以来积极推进科研体制改革与创新,通过与业内领先企业的紧密合作,进一步推动RFIC/MMIC 集成测试与研发工作。此次与NI的合作意味着上海微技术工研院在测试技术领域又迈出了重要一步。联合实验室的成立进一步确立了工研院和NI在射频及微波芯片测试技术领域的国内领先地位,联合实验室不仅具备科学价值,其实验成果在生产领域同样具备广泛的应用价值。
 
“NI在RFIC/MMIC测试技术领域的成就有目共睹,”上海微技术工研院总裁杨潇表示,“和NI合作成立联合实验室,有助于进一步提升上海微技术工研院的测试技术和研发能力。双方在多项领域紧密合作,相互裨益,共同推动未来测试技术领域的不断创新与发展。”
 
美国国家仪器中国区销售总监项晓峰表示:“NI的RF产品和解决方案可应用于从设计到测试等一系列过程,上海微技术工研院提供全方位的RF研发和产业化解决方案及物联网生态系统,本次合作有助于NI在中国市场的发展。”
 

关键字:半导体  射频  测试

编辑:王凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_14483.html
本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。

上一篇:全新源测量单元满足高功率器件测量应用需求
下一篇:艾睿电子购买RF和微波产品满足客户的长期需求

关注eeworld公众号 快捷获取更多信息
关注eeworld公众号
快捷获取更多信息
关注eeworld服务号 享受更多官方福利
关注eeworld服务号
享受更多官方福利
推荐阅读
全部
半导体
射频
测试

小广播

独家专题更多

东芝在线展会——芯科技智社会创未来
东芝在线展会——芯科技智社会创未来
2017东芝PCIM在线展会
2017东芝PCIM在线展会
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
TI车载信息娱乐系统的音视频解决方案
汇总了TI汽车信息娱乐系统方案、优质音频解决方案、汽车娱乐系统和仪表盘参考设计相关的文档、视频等资源
电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号 电信业务审批[2006]字第258号函 京公海网安备110108001534 Copyright © 2005-2017 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved