上海微技术工研院牵手NI引领射频及微波芯片测试技术研发

2016-01-21 16:38:07来源: EEWORLD
2016年1月18日,中国上海,上海微技术工业研究院(SITRI)作为致力于“超越摩尔”半导体技术及物联网应用研发和产业化的协同创新中心,宣布与美国国家仪器公司(National Instruments ,简称NI)签署合作,联合成立“射频及微波芯片(RFIC/MMIC)测试技术联合实验室”,通过与在该领域测试技术拥有深厚积淀的NI合作,进一步提升上海微技术工研院的研发能力,引领我国RFIC/MMIC 测试技术迈向国际化水平。

双方联合成立的“RFIC/MMIC测试技术联合实验室”将专注于射频及微波芯片测试技术的研究和开发,进一步推动该领域的集成测试与研发工作,包括物联网通信领域的高性能、高集成度射频前端通信产品研发,微波毫米波汽车雷达前端芯片的设计开发。同时,双方将在科学研究、技术创新、人才培养等诸多方面展开紧密合作。根据合作协议,上海微技术工业研究院将负责联合实验室的建设管理工作。
 
上海微技术工研院一直以来积极推进科研体制改革与创新,通过与业内领先企业的紧密合作,进一步推动RFIC/MMIC 集成测试与研发工作。此次与NI的合作意味着上海微技术工研院在测试技术领域又迈出了重要一步。联合实验室的成立进一步确立了工研院和NI在射频及微波芯片测试技术领域的国内领先地位,联合实验室不仅具备科学价值,其实验成果在生产领域同样具备广泛的应用价值。
 
“NI在RFIC/MMIC测试技术领域的成就有目共睹,”上海微技术工研院总裁杨潇表示,“和NI合作成立联合实验室,有助于进一步提升上海微技术工研院的测试技术和研发能力。双方在多项领域紧密合作,相互裨益,共同推动未来测试技术领域的不断创新与发展。”
 
美国国家仪器中国区销售总监项晓峰表示:“NI的RF产品和解决方案可应用于从设计到测试等一系列过程,上海微技术工研院提供全方位的RF研发和产业化解决方案及物联网生态系统,本次合作有助于NI在中国市场的发展。”
 

关键字:半导体  射频  测试

编辑:王凯 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_14483.html
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