移动终端非信令生产测试渐行渐近

2016-01-10 12:40:20来源: eefocus 关键字:移动终端  非信令  生产测试
1、概述

根据资料显示全球手机数量已经从2000年不到10亿部,增长到现在的60亿部,其中近50亿部都在发展中国家。估计,到2015年,世界上将有人口75亿,而手机将达到近90亿部。2012年中国智能终端出货量达2.24亿部,已成为全球最大的智能手机生产国。移动终端终端的制式从单模变为多模,支持2G、3G,甚至4G,频段从单频段到7、8频段,甚至10频段,终端的变化给移动终端生产厂家带来了巨大的挑战,测试项成倍增加,测试时间成倍增加,这也就意味着生产成本在大幅提高。

移动终端的非信令测试,是近两年逐步在产业界得到推广的测试技术,是测试仪表公司和移动终端方案公司共同努力的结果,极大地提升了移动终端测试的速度和稳定性,提高了生产效率。非信令测试是移动终端产业和测试仪表产业发展的必然趋势,移动终端生产线上使用的移动终端综测仪,将很快统一到非信令的模式。通过采用非信令测试,不仅仪器仪表的开支能够有可观的降低,更重要的是可以提高移动终端的测试速度和测试稳定性,由此可以为移动终端生产线带来人工、场地、供电等一系列配套开支的节省。

2、认识具有信令/非信令测试功能的全制式终端综测仪

终端综测仪是移动终端生产线的必备仪表,移动终端的制式从单模变为多模,支持2G、3G,甚至4G,频段从单频段到7、8频段,甚至10频段,终端变化迫使测试仪表迅速变化,多模综测仪应运而生,一起来面对这一巨大的挑战。T6280全制式终端综合测试仪全面支持LTE(TDD/FDD)/WCDMA/TD-SCDMA/GSM等主流通信制式的信令/非信令测试功能,由于采用了业界领先的分布式系统架构,非信令测试速度达到业界领先水平,测试速度取决于移动终端的非信令测试方案的所能达到的测试。T6280采用专用的自动增益控制(AutoScale)技术,可以在一次测量中对移动终端的整个动态功率(通常为-65dBm~+27dBm)进行自动匹配和测量,达到最优化的测试精度和测试速度。

非信令测试是移动终端产业和测试仪表产业发展的必然趋势,移动终端生产线上使用的移动终端综测仪,将很快统一到非信令的模式。通过采用非信令测试,不仅仪器仪表的开支能够有可观的降低,更重要的是可以提高移动终端的测试速度和测试稳定性,由此可以为移动终端生产线带来人工、场地、供电等一系列配套开支的节省。

图1、T6281终端测试仪

3、进一步缩减终端生产周期的解决方案

随着移动终端单位测试时间的降低,移动终端生产线上操作员装卸测试终端所占用的终测仪开销越来越大,导致生产过程中昂贵的综测仪表的空闲时间占比增加,为了解决该问题,创远开创性地推出了T6281移动终端序列测试接口开关,可以对已有的移动终端生产线进行简单改造,即可提升移动终端综测仪的使用率接近100%,并极大提升人均的产出。

图2、T6281前面板

T6281是一台高精度的移动终端测试端口分配器,能够将移动终端综测仪等关键设备的测试信号,分配到最多8台移动终端终端上,通过自动化的序列测试控制程序,实现昂贵的移动终端测试仪表的无间断运行,与此同时,移动终端生产线的操作员可以维护2倍以上的测试台。该产品的主要优势包括:

· 毋需升级测试仪表、测试软件、测试夹具,适配大多数移动终端生产线现有测试环境,配备T6281端口开关和与之匹配的顶层控制软件,即可完成生产线的升级改造

· 提高测试环境的使用率,在T6281测试系统的支持下,测试系统运行效率可接近100%,与现有行业内的通常水平有30%以上的提升

· 提高人工效率,通过配备T6281,操作员的绝大部分时间都可以专注于终端的装卸,效率大大提高

· 支持行业日渐流行的Panel(通常为4-PCB)测试,由一套测试机台+T6281支持Panel测试

· 支持LTE双天线端口扩展(需要选配第二路射频开关通道),一台T6281可支持8台LTE双天线移动终端的序列化测试

· 支持通信测试/GPS测试等多标准一站式测试(需要选配第二路射频开关通道)

· 测试台自动控制测试进程,测试结果结果在每个测试台进行指示,简化人工操作程序

T6281对2G/3G移动终端的一站式测试场景如图3,图中除T6281端口扩展开关和T6281Sequencer软件外,其它的环境配置与大多数生产线已有的配置完全一致。唯一的修改是要对上位机软件的线损进行调整(在900MHz频段上增加0.4dB左右,在2GHz频段上增加0.6dB左右)

图3、T6281测试场景

创远的T6280全制式移动终端综测仪和T6281移动终端序列测试接口开关能够全面支持移动终端产业对非信令测试的需求。

关键字:移动终端  非信令  生产测试

编辑:什么鱼 引用地址:http://www.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/article_14296.html
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